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上海無(wú)陌光學(xué)儀器有限公司
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更新時(shí)間：2025-03-02 10:07:31瀏覽次數(shù)：34次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線用途：適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測(cè)量、形貌觀察和圓度分析，能給出不同等效原理（如等面積圓、等效短徑等）的粒度分布，能直接觀察顆粒分散狀況，亦可用于其他粒度測(cè)試方法的輔助判斷分析。
WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀是一種圖像法顆粒粒度分析和形貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、工業(yè)CCD攝像機(jī)、電腦、打印機(jī)和圖像分析軟件等部分組成。
WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀是將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本工作流程是通過(guò)專(zhuān)用數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝下來(lái)并傳輸?shù)诫娔X中，通過(guò)專(zhuān)門(mén)的顆粒圖像分析軟件對(duì)顆粒圖像進(jìn)行處理與分析，從而得到每一個(gè)顆粒的粒度和粒形信息，再將每一個(gè)顆粒的粒度和粒形信息進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，從而得到粒度（D50）及粒度分布、平均長(zhǎng)徑比及長(zhǎng)徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結(jié)果。
WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀直觀、形象、準(zhǔn)確特點(diǎn)，它是將微米級(jí)以上的顆粒放大幾十、數(shù)百乃至上千倍，將整個(gè)顆粒形狀顯示在人們的眼前，使人一目了然。它不僅能看到顆粒，還能通過(guò)“尺子"來(lái)量每一個(gè)顆粒的大小，并通過(guò)圖像處理技術(shù)得到所有顆粒的直徑，進(jìn)而得到粒度分布、平均長(zhǎng)徑比以及長(zhǎng)徑比分布等。該款顯微顆粒圖像分析儀為粉體材料的科研、生產(chǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域增添了一種直觀、簡(jiǎn)便、準(zhǔn)確的粒度粒形測(cè)試手段。
WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀還具有很多圖像處理功能，包括自動(dòng)拍攝、自動(dòng)分割、自動(dòng)填充、批處理多幅圖像、準(zhǔn)確性標(biāo)定等。其中眾多的“自動(dòng)"功能簡(jiǎn)化了操作，提高了效率；批處理多幅圖像功能，克服了傳統(tǒng)的靜態(tài)圖像顆粒分析系統(tǒng)僅能分析單幅圖像，導(dǎo)致顆粒數(shù)太少，代表性不足，結(jié)果不準(zhǔn)確的問(wèn)題。它可以拍攝很多幅圖像，對(duì)這些圖像一幅一幅地處理，每一幅處理過(guò)的圖像上的顆粒都匯集到一起，提高了代表性。
二、主要技術(shù)指標(biāo)與性能
測(cè)試范圍 | 1-3000μm | 放大倍數(shù) | 160/400/1600/4000倍 |
重復(fù)性誤差 | ≤3%（國(guó)標(biāo)樣D50偏差） | 準(zhǔn)確性誤差 | ≤3%（國(guó)標(biāo)樣D50偏差） |
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)CCD | 500萬(wàn)像素 | 顯微鏡 | 生物顯微鏡/金相顯微鏡 |
標(biāo)尺精度 | 10μm | 分析項(xiàng)目 | 粒度分布、長(zhǎng)徑比分布、圓形度分布、單體顆粒和顆粒群等。 |
自動(dòng)分割速度 | <1秒 | 分割成功率 | >93% |
操作系統(tǒng) | WinXP/Win7/Win8/Win10 | 接口方式 | USB方式 |
三、主要應(yīng)用領(lǐng)域：（觀察粒形、分析粒度、監(jiān)測(cè)大顆粒）
· 磨料：如碳化硅、剛玉、金剛石、石榴石等。
· 電池材料：球形石墨粉等。
· 金屬粉：如球形鋁粉、鉛錫合金粉、其它霧化金屬粉。
· 非金屬粉：如玻璃珠、聚苯乙烯等。
· 針狀粉：如硅灰石等。
· 生物制劑：如細(xì)胞。
· 食品：如牛奶、面粉等。
· 其他：如科研、教學(xué)等。
四、測(cè)試原理
· 標(biāo)定方法：用顯微鏡專(zhuān)用標(biāo)準(zhǔn)刻度尺直接標(biāo)定每個(gè)像素的尺寸，再根據(jù)每個(gè)顆粒圖像面積所占的像素多少來(lái)度量顆粒的大小，以微米為單位。
· 測(cè)試原理：通過(guò)對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒所包含的像素?cái)?shù)量的統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出每個(gè)顆粒的等圓面積和等球體積，從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長(zhǎng)徑比等。為計(jì)算方便，WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀是以100個(gè)像素為一個(gè)計(jì)量單位的。下表為不同的物鏡放大倍數(shù)情況下100像素所對(duì)應(yīng)的粒徑值。
物鏡放大倍數(shù) | 像素 | 粒徑（微米） | 備注 |
4倍 | 100 | 250 | 100像素對(duì)應(yīng)的粒徑以標(biāo)定值為準(zhǔn)。 |
10倍 | 100 | 100 | |
40倍 | 100 | 25 | |
100倍 | 100 | 10 |
五、軟件功能舉例
系統(tǒng)組成：
1.光學(xué)顯微鏡
2.數(shù)字CCD攝像頭
3.圖像處理與分析軟件
4.電腦（選配）
5.打印機(jī)（選配）
技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
用途：適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測(cè)量、形貌觀察和圓度分析，能給出不同等效原理（如等面積圓、等效短徑等）的粒度分布，能直接觀察顆粒分散狀況
亦可用于其他粒度測(cè)試方法的輔助判斷分析，是我國(guó)現(xiàn)行金剛石微粉粒度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的推薦儀器。
用途
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測(cè)量、形貌觀察和圓度分析，能給出不同等效原理（如等面積圓、等效短徑等）的粒度分布，能直接觀察顆粒分散狀況、粉體樣品的大致粒度范圍、是否存在低含量的大顆粒或小顆粒情況等，定量測(cè)量圓度、長(zhǎng)短徑比等形貌指標(biāo)。
工作原理
將現(xiàn)代電子技術(shù)與顯微鏡方法相結(jié)合，用攝像機(jī)拍攝顯微鏡放大的顆粒圖像，圖像信號(hào)進(jìn)入計(jì)算機(jī)內(nèi)存后，計(jì)算機(jī)自動(dòng)地對(duì)顆粒的形貌特征和粒度進(jìn)行分析和計(jì)算，最后輸出測(cè)試報(bào)告。
技術(shù)指標(biāo)
1. 測(cè)試范圍：0.5～3000μm
2. 重復(fù)性誤差：<1%（標(biāo)樣D50偏差）
3. 電源要求：100～240V 50/60Hz
4. 工作環(huán)境溫度：5～40℃ 儲(chǔ)運(yùn)溫度：-25～60℃
5. 工作環(huán)境濕度：<80% (31℃時(shí))
6. 可支持操作系統(tǒng)：WindowsXP 32bit, Windows7 32/64bit, Windows8/10 64bit等
輸出項(xiàng)目
粒度分布表、粒度分布曲線、圓度分布表、圓度分布曲線、平均粒徑、中位徑、邊界粒徑、比表面積、平均圓度、圓度統(tǒng)計(jì)、分段平均圓度、典型顆粒圖形等
產(chǎn)品特點(diǎn)
1. 采用無(wú)陌光學(xué)全新生物顯微鏡和金相顯微鏡，配以500萬(wàn)像素高畫(huà)質(zhì)、高速CMOS圖像傳感器，完整捕捉顯微鏡下樣品所有細(xì)節(jié)信息，顆粒分辨能力高，拍照速度快。
2. 自動(dòng)掃描視場(chǎng)，避免重復(fù)掃描或遺漏掃描，取樣代表性強(qiáng)。
3. 自動(dòng)調(diào)整視場(chǎng)照度，自動(dòng)對(duì)焦，降低了操作強(qiáng)度，減少了人為因素對(duì)結(jié)果的影響。
4. 兼容USB3.0、USB2.0數(shù)據(jù)接口，與各型號(hào)計(jì)算機(jī)的兼容性更強(qiáng)。
5. 標(biāo)配4X、10X、40X、100X（油）平場(chǎng)消色差物鏡，可保存典型單個(gè)顆粒圖像。
軟件功能
1. 具有自動(dòng)背景、自動(dòng)調(diào)焦、自動(dòng)掃描功能
2. 軟件控制載物臺(tái)移動(dòng)
3. 3種統(tǒng)計(jì)方式：按體積統(tǒng)計(jì)、按顆粒數(shù)統(tǒng)計(jì)、按面積統(tǒng)計(jì)
4. 2種等效方式：等效圓、等效短徑
5. 2種累計(jì)分布方向：從小到大、從大到小
6. 具有照度、調(diào)焦指示窗口
7. 具備圖像顆粒自動(dòng)識(shí)別處理分析功能，點(diǎn)擊顆粒圖像即可顯示該顆粒測(cè)量參數(shù)
附WMS-1037顆粒圖像分析儀粒度測(cè)試報(bào)告
附WMS-1037顆粒圖像分析儀圓度測(cè)試報(bào)告
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