電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
Avio™ 200 系統(tǒng)能處理難度的、未經(jīng)稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來(lái)全新的性能及靈活性。
而且，特別的硬件特性與業(yè)界最直觀易用的軟件相結(jié)合，使多元素測(cè)量變得與單元素分析一樣簡(jiǎn)單。
作為市場(chǎng)上最小巧的 ICP，Avio 200 可通過(guò)以下性能，提供高效的操作、可靠的數(shù)據(jù)和較低的擁有成本：
性能可靠、功能強(qiáng)大、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠、Avio 200 具備您所尋求的 ICP所具有的一切。
較低的運(yùn)行成本
借助獲得 Flat Plate™ (平板) 等離子體技術(shù)，Avio 僅需消耗其他系統(tǒng)一半的氬氣量，即可生成強(qiáng)健、耐基體的等離子體，同時(shí)賦予您：
另外，為了提高效率，可令您從關(guān)機(jī)狀態(tài)啟動(dòng)，在短短幾分鐘內(nèi)即可進(jìn)行分析，因而您大可在儀器不使用時(shí)隨意關(guān)掉。
強(qiáng)大的雙向觀測(cè)功能
與提供軸向和徑向觀測(cè)而犧牲性能的同步垂直雙向觀測(cè) ICP 系統(tǒng)不同，Avio 200 系統(tǒng)獲得雙向觀測(cè)功能，可測(cè)量所有波長(zhǎng)，不會(huì)造成光或靈敏度的損失。即使是波長(zhǎng)大于 500 納米或低
于 200 納米的元素也可以測(cè)量，即便是在 ppb 的含量水平。該 Avio 系統(tǒng)特別的雙向觀測(cè)設(shè)計(jì)也提供了可擴(kuò)展的線性動(dòng)態(tài)范圍，確保實(shí)現(xiàn)：
集成等離子體觀測(cè)相機(jī)
可簡(jiǎn)化您的開(kāi)發(fā)方法，同時(shí)借助 Avio 200 系統(tǒng)的 PlasmaCam™技術(shù)，盡享遠(yuǎn)程監(jiān)控等離子體的便利。
可幫助您：
實(shí)時(shí)觀測(cè)等離子體
執(zhí)行遠(yuǎn)程診斷
查看進(jìn)樣部件
革新性 PlasmaShear 系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)無(wú)氬干擾消除
為了消除軸向觀測(cè)的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。沒(méi)有其他同類(lèi)儀器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更經(jīng)濟(jì)。
其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達(dá) 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統(tǒng)特別的 PlasmaShear™ 技術(shù)只需空氣即可。無(wú)需高維護(hù)、高提取系統(tǒng)或錐體。
CCD 檢測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確度和精密度
借助全波長(zhǎng)功能，Avio 200 系統(tǒng)的強(qiáng)大電荷耦合器件（CCD）檢測(cè)器能不斷提供正確的答案。
Avio 系統(tǒng)的 CCD 檢測(cè)器可同時(shí)測(cè)量所選譜線及其譜線附近波長(zhǎng)范圍，實(shí)時(shí)扣背景，實(shí)現(xiàn)出色的檢測(cè)精密度。在分析過(guò)程中，它還可以同時(shí)執(zhí)行背景校正測(cè)量，進(jìn)一步提高準(zhǔn)確度和靈敏度。
帶有快速轉(zhuǎn)換炬管底座的垂直等離子體，可實(shí)現(xiàn)基體靈活性
即使 ICP 正在運(yùn)行，Avio 200 系統(tǒng)的垂直炬管無(wú)需工具也能進(jìn)行簡(jiǎn)便快捷的調(diào)節(jié)，可提供更大的樣品靈活性并簡(jiǎn)化維護(hù)。炬管底座的設(shè)計(jì)與眾不同，具有以下特點(diǎn)：
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
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