產(chǎn)品簡(jiǎn)介： 1.標(biāo)準(zhǔn)探針臺(tái) 2.光學(xué)隔振平臺(tái)CPPT-A66，臺(tái)面600*600mm含支架 3.筆記本電腦/臺(tái)式電腦（標(biāo)準(zhǔn)的VGA接口和USB接口） 4.美國(guó)吉時(shí)利2400數(shù)字源表含軟件

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品信息：

直流I-V測(cè)試是表征微電子器件、工藝以及材料特性的基石。通常使用I-V特性分析，或者I-V曲線(xiàn)來(lái)決定器件的基本參數(shù)。
創(chuàng)譜儀器CPIV-SD半導(dǎo)體器件IV特性測(cè)試系統(tǒng)采用高精度，高漏電精度探針臺(tái)、數(shù)字源表以及上位機(jī)軟件組成；

產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆CPZH系列探針臺(tái)：4寸/6寸樣品盤(pán)，漏電精度100fA，真空吸附，3微米探針移動(dòng)精度，10微米針尖，2000萬(wàn)CCD成像，12寸顯示器

◆吉士利數(shù)字源表：

（雙電極）單通道選用2450，電壓量程：20mV-200V;電流量程：10nA-1A

（三端器件等）雙通道選用2602B，電壓量程：100nV-40V;電流量程：0.1fA-10A

◆IV測(cè)試軟件：

可以實(shí)現(xiàn)：?jiǎn)坞A恒流輸出、單階恒壓輸出、電阻測(cè)量、多階恒流輸出、多階恒壓輸出、電流掃描、電壓掃描、電流電壓波形輸出、溫度測(cè)量-PT100鉑電阻

在測(cè)試的過(guò)程中，測(cè)量數(shù)據(jù)以圖形和表格的方式實(shí)時(shí)顯示，在切換到下一步驟后，顯示數(shù)據(jù)界面重新進(jìn)行初始化，同時(shí)系統(tǒng)信息窗口提示當(dāng)前正在執(zhí)行的步驟。

產(chǎn)品應(yīng)用：
◆二極管特性的測(cè)量與分析
◆雙極型晶體管BJT特性的測(cè)量與分析
◆MOSFET場(chǎng)效應(yīng)晶體管特性的測(cè)量與分析
◆MOS 器件的參數(shù)提取

實(shí)測(cè)曲線(xiàn)：
實(shí)測(cè)雙端器件IV測(cè)試曲線(xiàn)

實(shí)測(cè)雙端器件IV測(cè)試曲線(xiàn)
實(shí)測(cè)三端器件IV測(cè)試曲線(xiàn)