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東譜科技（廣州）有限責任公司
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所 在 地廣州市
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更新時間：2024-05-31 08:21:42瀏覽次數：78次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線針尖增強拉曼散射(TERS)方法是基于拉曼、表面增強拉曼散射（SERS）以及AFM的聯(lián)用
針尖增強拉曼散射 (TERS) 方法是基于拉曼、表面增強拉曼散射（SERS）以及AFM的聯(lián)用。利用納米尺度的膠體顆?；虼植诮饘僖r底的表面等離子體共振，SERS可以探測到百萬分之一（ppm）數量級的化學樣品，因而長期以來一直被用于增強微弱的拉曼信號。
TERS的增強原理和SERS相同，但是TERS是使用金屬包覆的AFM針尖作為觸角來增強與針尖接觸區(qū)域樣品的拉曼信號。由于AFM針尖是納米尺度的，所以可以獲得納米尺度范圍的局域增強。通過區(qū)分TERS和常規(guī)拉曼散射（針尖離開樣品），可以獲得直徑<>區(qū)域內的拉曼信息。LabRAM 納米拉曼平臺與的AFM聯(lián)用，再加上拉曼專業(yè)技術，可以放心地進行TERS探索性實驗。
TERS已經應用于很多不同的領域，它突破了共焦拉曼儀器以前所受到的微米級別光學衍射極限限制，開啟了顯微分析和成像的新局面。
碳納米管的共點拉曼和AFM成像
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快速共焦拉曼成像可以輕易地從其他類型碳中找到單根的碳納米管，而AFM可提供形貌及其他物理參數（例如電導率或熱能信息）。上圖中采集的區(qū)域為10um×10um，拉曼成像的步長為250nm。
底部的拉曼光譜圖顯示了碳材料的D峰和G峰，從譜圖上可以很清楚地看出高質量納米管（紅）和無序材料（綠）間的差異。 |
原子力顯微鏡系統(tǒng)應用于生物、半導體和納米材料時，對于不同的應用會對儀器的性能有一些不同的要求或需要進行一些優(yōu)化。
HORIBA Scientific能夠提供拉曼系統(tǒng)與原子力顯微鏡聯(lián)用——幾乎所有廠家生產的原子力顯微鏡都可以和我們的拉曼系統(tǒng)聯(lián)用。
底部耦聯(lián)拉曼-AFM和TERS
共軸倒置顯微鏡配置非常適合于透明樣品：可以對共焦拉曼和熒光光譜成像使用高數值孔徑（NA）的物鏡，包括油鏡。
頂部空間可自由進行SPM實驗，包括原子力顯微鏡（AFM）、掃描隧道顯微鏡（STM）、光纖引入近場光學技術（SNOM、NSOM）和其他在空氣、液體或特殊環(huán)境下常用的SPM模式。
這種配置可以實現(xiàn)SPM和共焦拉曼成像同步掃描，并且可以使透明樣品的針尖增強拉曼散射（TERS）性能達到。
頂部耦聯(lián)拉曼-AFM和TERS
當使用傾斜針尖或透明探針時，頂部耦聯(lián)允許SPM和光譜測量（包括TERS）同步進行，且可以使用高NA物鏡（到0.7NA）。
如果增大探針的選擇范圍用于SPM成像或者使用高數值孔徑的物鏡（至0.95NA）用于拉曼或熒光共焦成像，兩者還是可以在同一位點實現(xiàn)相繼測量。
這種配置適合于不透明樣品的高分辨率共點測量，并可用于傾斜針尖和透明玻璃探針的TERS測量。
側向耦聯(lián)拉曼-AFM和TERS
側向耦聯(lián)是為了滿足使用大量不同SPM探針來測定不透明樣品的針尖增強（TERS）拉曼實驗而設計的。
這個設置是在角度使用了一個高NA長焦物鏡（至0.7NA，使到達針尖上的激光束具有合適的偏振方向用于TERS放大，并且能消除掃描探針-針尖的遮蔽以確保收集效率。
這種配置適合于不透明樣品的TERS測量。它也可以對AFM和共焦拉曼或熒光成像進行同步測量，但是受固有幾何限制的影響，其遠場的空間分辨率不及頂部耦聯(lián)方式。
移動耦聯(lián)用于相繼測量AFM和拉曼
通過一個高度精確的定位平臺，將樣品從原子力顯微鏡裝置平移到拉曼裝置（反之亦然），使經典拉曼和AFM圖像在同一樣品點上進行測量?？墒褂猛粋€軟件平臺，通過AFM成像找到一個感興趣的區(qū)域做拉曼分析。
AFM-拉曼和TERS的多端口耦聯(lián)配置
頂部及側向雙端口配置（其中側向用于優(yōu)化TERS，頂部耦聯(lián)用以達到高分辨率遠場光譜成像）可以使不透明樣品的共點相繼測量以及TERS的性能達到。
它還可使用中空懸臂實現(xiàn)近場光學技術（SNOM、NSOM），其中頂部的物鏡提供照明，信號強度通過反射模式收集。
頂部及底部雙端口配置既可以對透明樣品也可以對不透明樣品實現(xiàn)TERS和共點測量。它還可以實現(xiàn)透射模式的近場光學技術（SNOM、NSOM）。
三端口配置則將所有配置都優(yōu)化整合到一個的平臺中，以提供最多種優(yōu)化功能。
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