pct試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)（又名PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)）
主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，
濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
pct試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)-產(chǎn)品簡介
1.pct試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)采用優(yōu)化設(shè)計(jì),美觀大方，做工精細(xì)。
2.采用大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長,不中斷。
3.采用日本“SHIMAX"智能溫控器，具有精度高，控制穩(wěn)定特點(diǎn)（依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，和通訊功能）。
pct試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)-產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工
作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
pct試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)-規(guī)范要求
pct試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì),復(fù)合國家安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。
配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費(fèi)量身定制專用產(chǎn)品架。
pct試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)-安全保護(hù)裝置
A、誤操作安全裝置：高壓加速老化試驗(yàn)箱鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無法啟動.
B、超壓安全保護(hù)：當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過工作值自動排氣泄壓.
C、超溫保護(hù)：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動切斷加熱電源.
D、防燙傷保護(hù)：特制材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷.
E、手動安全保護(hù)排壓伐.
pct試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)-半導(dǎo)體測試
PCT試驗(yàn)箱對半導(dǎo)體的PCT測試：PCT最主要是測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，
濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應(yīng)、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦贰⒎庋b體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。
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