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更新時(shí)間：2025-03-26 08:49:51瀏覽次數(shù)：58次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線ATR衰減全反射探頭
ATR衰減全反射探頭
Attenuated Total Reflectance Probe ATR探頭是測量吸光率在4000-5000 AU/cm 的樣品的理想產(chǎn)品。它能夠直接插入樣品中，不需要稀釋樣品就能獲得光譜。典型的應(yīng)用包括純墨水樣品、染色樣品和原油樣品的測量。另外，如果探頭頂部的接觸樣品的折射率大于ATR探頭的藍(lán)寶石晶體的折射率，或大于1.7，ATR探頭可用作通用探頭。
ATR探頭被設(shè)計(jì)用于工業(yè)過程應(yīng)用，曾經(jīng)在10,000psig的環(huán)境下接受測試。ATR探頭可以在**315C的溫度下工作。ATR探頭是個(gè)經(jīng)過三次反射的探頭，并且可以穿透被測量波長的衰逝波/倏逝波。
應(yīng)用場景
ATR(attenuated total reflection,衰減全反射),
定義：入射面內(nèi)偏振的單色平面光波在密－疏媒質(zhì)的界上全反射時(shí)，光疏媒質(zhì)中所形成的迅衰場（見衰減波）量可以被耦合到金屬或半導(dǎo)體的表面上而使表面等離元（SP）或表面極化激元共振激發(fā)。全反射的光強(qiáng)因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象。
利用光學(xué)中的迅衰場與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。
應(yīng)用：ATR在實(shí)際應(yīng)用中，作為紅外光譜法的重要實(shí)驗(yàn)方法之一，從一開始便顯示出其的優(yōu)勢和廣闊的應(yīng)用前景。由于其并不需要通過透過樣品的信號(hào)，而是通過樣品表面的反射信號(hào)獲得樣品表層有機(jī)成份的結(jié)構(gòu)信息。不但簡化了樣品的制作過程，而且極大地?cái)U(kuò)大了紅外光譜法的應(yīng)用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過法無法制樣，或者樣品制備過程十分復(fù)雜、難度大、而效果又不理想的實(shí)驗(yàn)成為可能。因此，被廣泛應(yīng)用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。
詳細(xì)參數(shù)
型號(hào) | 規(guī)格 |
推薦使用的光纖直徑: | 600 μm |
外部直徑: | 19 mm (0.75") |
探頭長度: | ~305 mm |
身體材料: | 316 不銹鋼(標(biāo)準(zhǔn)); Hastelloy C, Titantium 和 Monel 也可用 |
晶體材料: | 藍(lán)寶石 |
密封: | 標(biāo)準(zhǔn)用Viton，也可選Chemraz, Kalrez |
壓強(qiáng)限制: | 10,000 psig |
光纖接頭: | SMA 905 |
溫度限制: | 300 oC |
波長范圍: | UV-NIR |
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