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更新時間：2024-02-13 14:43:09瀏覽次數(shù)：176次
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角分辨散射儀昊量光電新推出用于準(zhǔn)確測量材料散射特征的角分辨散射儀，為高質(zhì)量光學(xué)產(chǎn)品的生產(chǎn)提供有力保障
角分辨散射儀
昊量光電新推出用于準(zhǔn)確測量材料散射特征的角分辨散射儀，為高質(zhì)量光學(xué)產(chǎn)品的生產(chǎn)提供有力保障。這種角分辨散射測量儀能夠能夠測量二維或三維雙向散射分布函數(shù)(BSDF)，包括雙向反射分布函數(shù)BRDF, 雙向透射分布函數(shù)BTDF,透射，反射，散射等。
手持式散射儀
MicroScan (μScan™)散射計(jì)是一種手持式散射計(jì)，提供了一個快速，非破壞性的方式檢測表面粗糙度和光學(xué)特性。可用于鏡面、各種反射鏡及精密加工表面檢測。它可以在實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場和制造環(huán)境中使用。一個常見的用途是就地檢測難以移動的大型表面(如望遠(yuǎn)鏡反射鏡)。另一個是在制造車間對大型板材產(chǎn)品(軋制金屬、鍍膜玻璃等)進(jìn)行表面光潔度檢驗(yàn)。
臺式高速角分辨散射儀
可編程掃描允許對反射或透射半球進(jìn)行采樣，距離鏡面光束小于5度，小于0.6度(帶有光束輪廓器選項(xiàng))。標(biāo)準(zhǔn)型號包含一個635 nm的光源，其它波長可選，如：473nm,532nm,635nm和980 nm。動態(tài)范圍超過10個數(shù)量級，噪聲下限約為10-6/sr。這款臺式角分辨散射儀能夠測量大多數(shù)光學(xué)元件，但不能測量拋光硅片。蕞大入射角75度，全半球掃描根據(jù)掃描分辨率不同在5-30秒內(nèi)完成。
半球散射測量儀
TSW TASC™半球散射計(jì)使用激光或?qū)拵г磫紊鞯墓猓鳛榉墙佑|式探頭來測量來自各種材料的散射光，包括液體和粉末。偏振變換選項(xiàng)允許測量和分析斯托克斯矢量和穆勒矩陣。反向散射組件選項(xiàng)提供沿入射光束直接散射的能量的敏感測量。樣品水平安裝在可在X和Y方向移動和/或旋轉(zhuǎn)的平臺上。入射角可以設(shè)置為距離表面法線85度以內(nèi)的任何角度。TASC可編程掃描上方半球(用于反射)或下方半球(用于傳輸)，每步分辨率可降至0.001。
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產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、精密光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防及更細(xì)分的前沿市場如、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等優(yōu)質(zhì)服務(wù)。
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