高分辨率測試靶TestChart◆負片圖案設計◆基底為10x10mm2，設計緊湊，尺寸穩(wěn)定性良好◆采用高精度電子束光刻技術制作◆結構尺寸低至100nm◆分辨率可達到3300lp/mm昊量光電推出的Testchart標準尺系列是由高精度的電子束光刻制作而成，這些圖案蝕刻在具有廣譜透射(DUV-VIS-NIR)的，基底為一個10×10mm2石英襯底上

詳細介紹

高分辨率測試靶 Test Chart

◆ 負片圖案設計

◆ 基底為10x10mm2，設計緊湊，尺寸穩(wěn)定性良好

◆ 采用高精度電子束光刻技術制作

◆ 結構尺寸低至100nm

◆ 分辨率可達到3300 lp/mm

昊量光電推出的 Test chart 標準尺系列是由高精度的電子束光刻制作而成，這些圖案蝕刻在具有廣譜透射(DUV-VIS-NIR)的，基底為一個10×10 mm2石英襯底上。在襯底上施加了高光密度的鉻層，之后通過燒蝕鉻層，使得結構尺寸可以降低到100納米的同時保證了設計的精度，這種方式也保證了結構邊緣的良好尺寸公差和直線度。其結構為負片圖案，且每個靶上的負片圖案允許結構透明，而背景被鉻層阻擋。同時為配各類顯微鏡物鏡使用，有多種圖案可以選擇，且所有圖案都可以有一個厚度0.17毫米的覆蓋玻璃的版本可用。

標準載玻片靶 TC-RT01 —— 7.5-3300 lp/mm+4.0-0.25um Pinholes

通過高分辨率的RT01，可以非常輕松、快速地在傳輸光下確定目標的分辨率限制。水平和垂直對齊共有 59 條線型，涵蓋了精度從每毫米 7.5條線對到 3300 條線對。

同時結構的簡單排列和測試結構尺寸的直接讀取確保了直觀的處理。此外，還有5個直徑在4.0-0.25 um之間的針孔，可以實現(xiàn)微成像光學元件的詳細表征

西門子星狀靶 TC-RT02 —— Resolution testchart with very high precision

該標準尺由 5 顆西門子星組成，其特點是星中心的錐形部分制造的寬度低至為 150nm。該測試目標板非常適合于確定具有非常高數(shù)值光圈的顯微鏡物鏡的分辨率

載玻片檢查板TC-CB50 —— CheckBoard of 50 x 50 um2 squares

高分辨率顯微鏡檢查板的特點內(nèi)部每個正方形均為 50 x 50 平方微米，整體尺寸為 9.0 x 9.0 平方毫米。該靶片非常適合于測試圖像偏斜和曲率，以及確定由于直線和銳邊導致的圖像質量。

載玻片針孔靶TC-ST01 —— Stepped rows of Pinholes from 0.18μm-4μm

該標準尺上提供了直徑0.18um到4um的針孔。相同階梯式針孔間具有足夠的暗區(qū)，使待測透鏡的整個視場變暗。該標準尺特別適用于顯微鏡透鏡的星形測試和光學顯影

高分辨率顯微鏡靶通用規(guī)格

Pattern Tolerance:	100nm/cm
光密度 OD:	OD>8 @ 400nm, 6 @ 550nm, 4.5 @ 750nm, 3.6 @ 1000nm
光譜范圍:	200 - 2000nm
基底:	Fused Silica w/Chrome deposit
尺寸 (mm):	10 x 10 x 1
構造 :	Stainless Steel, 75 x 25 x 1.5mm, microscope slide format