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BX-G105教學(xué)橢偏儀激光橢偏儀

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更新時(shí)間：2023-03-01 17:49:39瀏覽次數(shù)：231次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

BX-G105 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱(chēng)“零橢偏"）測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。 BX-G105儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。

詳細(xì)介紹

橢偏儀設(shè)備橢偏儀激光度儀器

產(chǎn)品用途：

BX-G105 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱(chēng)“零橢偏”）測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。 BX-G105儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。

儀器特點(diǎn)：

1. 經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理：儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過(guò)程

2. 方便樣品水平放置方式：才用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放

3. 緊湊的一體化結(jié)構(gòu)：集成一體化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)潔的儀器外形通過(guò)USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器使用

4. 高準(zhǔn)確性的激光光源：采用激光作為探測(cè)光波，測(cè)量波長(zhǎng)準(zhǔn)確度高

5. 豐富實(shí)用的樣品測(cè)量功能：可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等

6. 便捷的自動(dòng)化操作：儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量，并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作

7. 用戶(hù)使用權(quán)限管理：軟件中設(shè)置了用戶(hù)使用權(quán)限（包括：管理員、操作者等模式），便于儀器管理和使用

8. 可擴(kuò)展的儀器功能上：利用本儀器，可通過(guò)適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)驗(yàn)、旋光等

關(guān)鍵詞：測(cè)厚儀