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梅特勒XPE分析天平

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更新時(shí)間：2023-03-08 13:16:40瀏覽次數(shù)：245次

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產(chǎn)品簡介

梅特勒XPE分析天平將精確稱量與眾多智能特性相結(jié)合，讓您的日常稱量任務(wù)變得準(zhǔn)確無誤。您不僅可以體驗(yàn)到新超越系列分析天平提供的稱量性能，更可以確保全面的法規(guī)*性，以及至高的過程安全性。

詳細(xì)介紹

梅特勒-托利多推出新超越系列XPE新一代分析天平，將實(shí)驗(yàn)室稱量帶到了一個(gè)嶄新的高度！

1、*的天平狀態(tài)指示燈功能，讓天平稱量變得智能化；
2、RFID射頻識(shí)別技術(shù)，可與移液器等其他實(shí)驗(yàn)室快速無線通訊；
3、的防靜電技術(shù)，確保稱量的準(zhǔn)確性；
4、帶紅外感應(yīng)器，無需接觸天平，只要揮揮手就能實(shí)現(xiàn)開關(guān)門、打印、去皮等操作；
5、高分辨率后置傳感器，內(nèi)置兩組校正砝碼。

儀器無憂——我明白稱量很安全！

梅特勒XPE分析天平是全新智能安全工具可監(jiān)控天平的狀態(tài)，以確保安全地開始稱量任務(wù)。創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈(StatusLight)讓您只需看一眼即可了解稱量是否開啟綠燈：執(zhí)行了的天平校準(zhǔn)和日常測試，天平處于水平狀態(tài)且性能正常。

樣品無憂——再也不受靜電問題困擾！

靜電是分析稱量過程面臨的主要挑戰(zhàn)。正常操作時(shí)，容器和樣品很容易吸附靜電荷，從而導(dǎo)致稱量誤差。電荷也可使粉末狀顆粒飄散，這在處理昂貴或有毒物質(zhì)時(shí)容易造成額外的問題。新超越系列天平的智能靜電檢測和去靜電解決方案可避免稱量誤差，并使樣品處理更加簡單安全。

過程無憂——減少錯(cuò)誤的又一里程碑！

梅特勒-托利多的LabX軟件可顯著提升實(shí)驗(yàn)室的影響力，是保證過程安全性和管理稱量不確定性的*解決方案。LabX在提供基于天平觸摸屏的靈活的SOP用戶向?qū)Х矫妗Ｗ詣?dòng)數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和生成報(bào)告意味著再也不需要通過手工記錄，避免了抄錄誤差并確保了可追溯性。新超越系列天平輕松地滿足至高過程安全要求，并幫助您建立無紙化實(shí)驗(yàn)室。

狀態(tài)指示燈

狀態(tài)指示燈清晰地顯示天平是否已準(zhǔn)備好開始稱量任務(wù)。綠色表示天平準(zhǔn)備運(yùn)行，黃色表示天平通過TestManager連接至日常測試，紅色表示對(duì)天平失去平衡等錯(cuò)誤立即采取糾正措施。