UX-510 X熒光光譜儀
產(chǎn)品特點(diǎn)：
• 真空測(cè)試系統(tǒng)
特別設(shè)計(jì)的真空測(cè)試系統(tǒng)，**保證了輕質(zhì)元素（CL等）的檢測(cè)質(zhì)量，同時(shí)保留了原有測(cè)試系統(tǒng)對(duì)于其他元素的適應(yīng)性。不會(huì)因測(cè)輕質(zhì)元素而降低對(duì)其他元素的測(cè)試效果。
• 全自動(dòng)操作
自動(dòng)化的操作系統(tǒng)、人性化的操作界面，通過(guò)鼠標(biāo)即可完成全程操作（真空控制、原級(jí)濾光片、準(zhǔn)直器、二次濾光片、樣品的移動(dòng)和樣品蓋的開關(guān)、工作曲線的選擇全部實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制，程序會(huì)根據(jù)預(yù)先設(shè)定的測(cè)試條件自動(dòng)進(jìn)行所有的切換動(dòng)作）。
• 照射區(qū)**控制系統(tǒng)
可**調(diào)整的X光照射區(qū)域控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)測(cè)試區(qū)域的準(zhǔn)確把握。從根本上保證測(cè)試數(shù)據(jù)的對(duì)應(yīng)性。
• 成熟的經(jīng)典分析方法
集國(guó)家七·五、九·五科技攻關(guān)計(jì)劃之科技成果，匯近二十五年分析測(cè)試應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的經(jīng)典數(shù)學(xué)分析模型，為測(cè)試者提供可靠、精準(zhǔn)、穩(wěn)定的分析結(jié)果。
• 強(qiáng)大的軟件功能
高度智能化設(shè)計(jì)使操作更加簡(jiǎn)便，輕松成為測(cè)試專家。
可根據(jù)測(cè)試情況，自動(dòng)設(shè)定各操作單元?jiǎng)幼骷跋嚓P(guān)技術(shù)參數(shù)。既保證了相關(guān)器件的壽命，又避免了人為操作誤差。
全自動(dòng)高精度背景擬合、多元回歸等解譜方法的應(yīng)用，使復(fù)雜材質(zhì)的檢測(cè)更加準(zhǔn)確、便捷。
特別預(yù)置的譜圖對(duì)比功能，很方便的實(shí)現(xiàn)歷史譜圖與被測(cè)譜圖的對(duì)比，利于對(duì)數(shù)據(jù)變化材質(zhì)的**分析，進(jìn)一步提高企業(yè)的風(fēng)險(xiǎn)應(yīng)對(duì)水平。
簡(jiǎn)單、迅速的數(shù)據(jù)管理與報(bào)告輸出格式，方便用戶進(jìn)行相關(guān)的數(shù)據(jù)管理與報(bào)告輸出。
• 開放性工作曲線
用戶可很方便的建立不同材質(zhì)材料的工作曲線，提高工作曲線與被測(cè)材料的對(duì)應(yīng)性。建立本地化的工作曲線庫(kù)，從而**提升檢測(cè)精度。
• 嚴(yán)謹(jǐn)?shù)挠布膳c結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
對(duì)可能影響整機(jī)**度及穩(wěn)定性的核心器件，全部采用優(yōu)異進(jìn)口原廠產(chǎn)品。
嚴(yán)謹(jǐn)?shù)哪K化設(shè)計(jì)與組件選擇，確保了整機(jī)性能的穩(wěn)定性與未來(lái)服務(wù)的操作簡(jiǎn)便性。
特別設(shè)計(jì)的原級(jí)、二次濾光系統(tǒng)，既保證了對(duì)有害元素的激發(fā)效率，同時(shí)**降低了作為干擾因素的背景強(qiáng)度，充分提高峰背比，大幅度降低檢出下限。
• 全光路射線防護(hù)系統(tǒng)
*業(yè)界的全光路三重防護(hù)系統(tǒng)（軟件防護(hù)、硬件防護(hù)、迷宮式結(jié)構(gòu)），根本上避免了故障、誤操作等可能的輻射傷害。確保機(jī)器操作過(guò)程中輻射量低于環(huán)境本底值。（開蓋測(cè)量除外。大樣品進(jìn)行開蓋測(cè)量時(shí)的特別警示系統(tǒng)，進(jìn)一步確保用戶在該類物質(zhì)測(cè)試過(guò)程中的安全顧慮）。
全光路防護(hù)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，減少了無(wú)射線區(qū)域的無(wú)必要防護(hù)，進(jìn)一步確保了整機(jī)散熱質(zhì)量，**提升系統(tǒng)的環(huán)境適應(yīng)性及穩(wěn)定性。
• **的配套組件
購(gòu)置附件后可進(jìn)行六價(jià)鉻定量測(cè)試。
配套多元素分析軟件后配合真空裝置測(cè)試范圍可擴(kuò)展到（AL~U），滿足擴(kuò)展的元素檢測(cè)需求。
鍍層分析軟件，可進(jìn)行鍍層膜厚測(cè)試。
多元素分析及鍍層分析軟件為二選一標(biāo)配，用戶如需要另外一款軟件需另行購(gòu)置。
| UX-510配置與參數(shù) |
| 探測(cè)器 | Amptek X-123 配置原廠MCA |
| 高壓電源 | Spellman MNX50P50 |
| X光管 | 丹東 專用X光管 Mo靶 |
| 真空泵 | 寧波愛科發(fā) N051 |
| 自動(dòng)化操作系統(tǒng) | 華唯磚利設(shè)計(jì) 實(shí)現(xiàn)：真空、原級(jí)濾光片、準(zhǔn)直器、二次濾光片、樣品及測(cè)試區(qū)域定位、樣品蓋開關(guān)、工作曲線選擇全自動(dòng) |
| 分析軟件 | UX-510 V6.0 ； 多元素分析軟件， 鍍層膜厚分析軟件（二選一）。 |
| 技術(shù)參數(shù) |
| 儀器尺寸 | 830 (W)*530(D)*500(H)mm |
| 裝箱尺寸 | 970(W)* 640(D)* 680(H)mm |
| 樣品腔尺寸 | 小樣品腔：300(W)*300(D)*100(H)mm； 真 空 腔：ø 200*40(H) mm 大樣品腔：無(wú)限制，小于30公斤 |
| 真空度 | 測(cè)試真空度20Pa，極限真空0.1Pa |
| 重量 | 凈重：85kg |
| 工作環(huán)境 | 15—30℃ 相對(duì)濕度≤85%（不結(jié)露） |
| 可分析元素范圍 | Al-U |
| 極限檢出限 | Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm CL≤50ppm |
| 測(cè)量時(shí)間 | 200-400s |
| 探測(cè)器*佳分辨率 | 149±5eV |
| 電源 | AC 220V ± 10%，50Hz 1500W |
| 選配件 |
| 六價(jià)鉻測(cè)試儀 |
| 多元素分析軟件， 鍍層膜厚分析軟件（二選一） |
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