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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

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更新時間：2023-09-21 15:29:11瀏覽次數(shù)：76次

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產(chǎn)品簡介

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品名稱：	介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

儀器型號：	YY.10-B/C

產(chǎn)地：	國產(chǎn)

關(guān)鍵字：	介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

產(chǎn)品描述

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
    高頻介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）ZJD-C型介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入ZJD-B或C、及LKI-1型電感器組成，它依據(jù)國標(biāo)GB/T1409-2006、美標(biāo)ASTMD150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的優(yōu)選解決方案。
    《S916介質(zhì)損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件，它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。S916介質(zhì)損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，精密的加工設(shè)計、精確的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
    基于串聯(lián)諧振原理的《ZJD-B/C介質(zhì)損耗及介電常數(shù)儀》是測試系統(tǒng)的二次儀表，其數(shù)碼化主調(diào)電容器的創(chuàng)新設(shè)計代表了行業(yè)的成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描(B1型)的全新搜索功能。該表具有*的人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調(diào)電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達(dá)1×10-6。國標(biāo)GB/T1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)，把被測材料作為平板電容的介質(zhì)，與輔助電感等構(gòu)成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取的測試靈敏度。因而Q表法的測試結(jié)果更真實地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。
    介質(zhì)損耗及介電常數(shù)儀的全數(shù)字化界面和微機控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關(guān)注量程和換算，摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測量的理想工具。
數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入ZJDB或C)，實現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計算的微處理化，tanδ測量結(jié)果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數(shù)據(jù)的精確度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算的。
    一個高品質(zhì)因數(shù)（Q)的電感器是測量系統(tǒng)的輔助工具，關(guān)乎測試的靈敏度和精度，在系統(tǒng)中它與平板電容（S916）構(gòu)成了基于串聯(lián)諧振的測試回路。本系統(tǒng)推薦的感器為LKI-1電感組，共由9個高性能電感器組成，以適配不同的檢測頻率。
介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要性能參數(shù):
S916測試裝置
高頻測試儀
平板電容極片:Φ50mm/Φ38mm可選
頻率范圍:20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調(diào)范圍:≥15mm
頻率指示誤差:3×10-5±1個字
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
主電容調(diào)節(jié)范圍:30-500/18-220pF
測微桿分辨率:0.001mm
主調(diào)電容誤差:<1%，0.1pF
夾具:損耗角
正切值:≦4×10-4（1MHz)
Q測試范圍:2～1023