J105 SIM是的三維成像ToF SIM，具有較好的靈敏 度和優(yōu)異的成像和質(zhì)譜性能。J105將創(chuàng)新設(shè)計(jì)和 科學(xué) 與各方面的功能列表相結(jié)合，重新定義了ToF SIMS的功 能。 使用高分辨率團(tuán)簇離子束進(jìn)行快速2D和3D成像，提供分子靈敏度。J105 SIMS具有一系列可供選擇的高性能離子束和始終獨(dú)自于樣品的性能，可提供處理任何分析情況的工具。
優(yōu)勢(shì)
快速高分辨率2D和3D分子成像。
所有樣品的質(zhì)量精度和質(zhì)量分辨率一致，與樣品高度無(wú)關(guān)。
我們的 Water Source 具有沒(méi)有可比性的的靈敏度和成 像質(zhì)譜性能。
一系列高性能離子束，適合各種應(yīng)用。
高質(zhì)量精度和串聯(lián)質(zhì)譜用于精確的峰分配。
全低溫樣品處理能力。
3D 質(zhì)譜成像
無(wú)需再次運(yùn)行“sputter-only"循環(huán)即可獲得高分辨率3D化學(xué)圖像！由于高性能團(tuán)簇離子束和創(chuàng)新型聚束ToF分析儀的獨(dú) 特組合，J105上的分析和低損傷蝕刻同時(shí)發(fā)生。由于使用 集束束束進(jìn)行分析，因此不需要“sputter-only"循環(huán)，并且對(duì) 每一層進(jìn)行分析，這使得J105 SIMS成為3D成像和深度剖面 分析的極其精確的工具。
所有樣本的一致性
對(duì)于每個(gè)實(shí)驗(yàn)來(lái)說(shuō)，獲得平坦的樣本并不總是切實(shí)可 行的，而對(duì)于J105 SMIS，您不再需要這樣做了！J105的創(chuàng) 新設(shè)計(jì)將主光束與ToF分析儀分離，提供與樣品高度無(wú)關(guān) 的一致質(zhì)量精度。因此，即使是復(fù)雜的3D結(jié)構(gòu)，如支架、 支架和纖維，也可以在不損失性能的情況下進(jìn)行分析。
沒(méi)有可比性的的靈敏度
J105利用Ionoptika享譽(yù)世界的團(tuán)簇束技術(shù)，對(duì)完整的分子物 種提供沒(méi)有可比性的的靈敏度，對(duì)于高級(jí)應(yīng)用和高分辨率成像 至關(guān)重要。 現(xiàn)在，這項(xiàng)激動(dòng)人心的新技術(shù)采用了新的水團(tuán)簇源， 提高了完整分子離子（如脂質(zhì)、藥物和代謝物） 的靈敏度和優(yōu)異的成像能力。
生物分析
J105 初設(shè)計(jì)用于生物分析，配備了一系列功能，可從任何生物樣品中獲得較好結(jié)果。
高分辨率的脂質(zhì)體組學(xué)分析
高性能氣體團(tuán)簇離子束極大地提高了高質(zhì)量分子離子（例如脂質(zhì)）的產(chǎn)率，即使在分辨率低至1.5µm時(shí)也能 產(chǎn)生極其豐富的光譜。
3D imaging
大型集束光束產(chǎn)生的碎片和亞表面損傷非常小，非常適 合進(jìn)行三維生物分析。J105上的分析和低損傷蝕刻是連 續(xù)和并行的，因?yàn)槊慨?dāng)離子束打開時(shí)，二次離子都會(huì)被 收集，從而產(chǎn)生非常高的深度分辨率。
水團(tuán)簇束的藥物成像
GCIB的新型水簇插件提供了的分子靈敏度。以高 分辨率和更清晰的方式對(duì)低豐度物種（如藥物和代謝物） 進(jìn)行成像。
冷凍水化分析
為了從生物系統(tǒng)中獲得 可靠的結(jié)果，冷凍水合分析被證 明是有效的方法之一。J105無(wú)縫集成到cryo工作流程 中，標(biāo)準(zhǔn)配置包括手套箱和液氮冷卻樣品處理系統(tǒng)。
自信地完成分峰任務(wù)
空間分辨率、質(zhì)量分辨率和一致的質(zhì)量精度都使峰值識(shí)別 成為常規(guī)程序，即使是在粗糙或彎曲的樣品上。對(duì)于 終 分配，串聯(lián)MS模式作為標(biāo)準(zhǔn)模式提供。
材料分析
J105具有多種功能，是材料分析應(yīng)用的理想選擇。
適合于不同類型樣品的離子束
有多達(dá)5種不同的離子束可供選擇，包括 GCIB、C60、金團(tuán)簇、氧和銫源，以及一系列的 光斑大小和電流，有一種離子束適合每種類型的樣品。
彎曲、粗糙或形貌起伏的樣本
由于其巧妙的設(shè)計(jì)，J105可在所有樣品上提供一致的質(zhì)量精度和質(zhì)量分辨率，與樣品高度的變化無(wú)關(guān)。
基于gcIB 的聚合物三維分析
使用全新的高性能氣體團(tuán)簇離子束，比以往任何時(shí)候都更 快、更深入地進(jìn)行分析。適用于聚合物和隱藏的界面分析。
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