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更新時(shí)間：2024-02-07 14:42:52瀏覽次數(shù)：302次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線InfraTec可調(diào)波長(zhǎng)紅外熱釋電探測(cè)器采用靜電驅(qū)動(dòng)波長(zhǎng)調(diào)節(jié)，位置變化和溫度變化的主動(dòng)補(bǔ)償，電流模式，熱補(bǔ)償。InfraTec波長(zhǎng)可調(diào)紅外熱釋電探測(cè)器主要應(yīng)用領(lǐng)域在化學(xué)物質(zhì)組分檢測(cè)，定性未知物質(zhì)，重疊吸收帶中分辨物質(zhì)組分等。
InfraTec波長(zhǎng)可調(diào)熱釋電探測(cè)器，熱補(bǔ)償
InfraTec公司在用于高精度的氣體分析，高性能的火情、火焰探測(cè)器領(lǐng)域，專注于研發(fā)生產(chǎn)InfraTec可調(diào)波長(zhǎng)紅外探測(cè)器，已經(jīng)開發(fā)出多種類型，高質(zhì)量的InfraTec熱釋電紅外探測(cè)器。采用模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的InfraTec熱釋電探測(cè)器具有多種品類，能夠提供滿足各種應(yīng)用場(chǎng)景的需求。本篇主要介紹可調(diào)波長(zhǎng)紅外熱釋電探測(cè)器和可調(diào)波長(zhǎng)熱釋電探測(cè)器。
InfraTec熱釋電紅外傳感器
這您可以找到InfraTec公司的可調(diào)波長(zhǎng)探測(cè)器。由Infratec研發(fā)實(shí)驗(yàn)室開發(fā)出一種新穎的可調(diào)波長(zhǎng)紅外熱釋電傳感器?？烧{(diào)波長(zhǎng)紅外熱釋電傳感器可以通過一個(gè)簡(jiǎn)單的電壓控制來(lái)改變波長(zhǎng)。法布里-佩羅（Fabry-Perot）濾鏡能夠?qū)崿F(xiàn)一個(gè)寬波段內(nèi)的連續(xù)光譜掃描，以此來(lái)取代安裝不同的濾鏡檢測(cè)感興趣的波段。
可調(diào)波長(zhǎng)紅外熱釋電傳感器主要特點(diǎn)
-四組光譜范圍可選
-光譜分辨率λ/Δλ可達(dá)60
-靜電驅(qū)動(dòng)波長(zhǎng)調(diào)節(jié)
-位置變化和溫度變化的主動(dòng)補(bǔ)償
-電流模式
-熱補(bǔ)償
可調(diào)波長(zhǎng)紅外熱釋電探測(cè)器應(yīng)用領(lǐng)域范圍廣泛
基于 InfraTec可調(diào)波長(zhǎng)紅外熱釋電探測(cè)器原理的紅外光譜法，是鑒別物質(zhì)成分和濃度的非常成熟的方法，de具有特異性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。此類應(yīng)用非常廣泛，在此只列舉一些非常重要的例子。它不僅被廣泛地用于氣體分析，當(dāng)然在液體和固體物質(zhì)分析中也常被選擇。
-在測(cè)量物質(zhì)方面靈活多樣
-應(yīng)用化學(xué)計(jì)量法分析多組分物質(zhì)
-可以從重疊吸收帶中測(cè)出已知物質(zhì)的組分
-可以定性未知物質(zhì)
-高性價(jià)比，耐用，并且小型化
InfraTec可調(diào)波長(zhǎng)紅外傳感器的設(shè)置
法布里-帕羅濾光片和鉭酸鋰材料的 InfraTec可調(diào)波長(zhǎng)紅外熱釋電探測(cè)器一起被封裝在TO8的管殼中。熱釋電探測(cè)器采用的電流模式即帶集成運(yùn)放，并且?guī)嵫a(bǔ)償。靈敏元大小是2×2 mm2，正好和濾光片尺寸匹配。帶寬濾光片被封裝在管帽上面。校正數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)于EEPROM。集成ASIC能夠反饋移動(dòng)鏡面的位置信息。在重力變化的環(huán)境中，這樣一個(gè)閉環(huán)控制大大提高了中心波長(zhǎng)（CWL）的穩(wěn)定性，例如，在旋轉(zhuǎn)探測(cè)器的使用位置時(shí)。
InfraTec可調(diào)波長(zhǎng)紅外傳感器的工作原理
紅外熱釋電傳感器可調(diào)波長(zhǎng)技術(shù)是基于微機(jī)械加工的法布里-帕涉儀技術(shù)。紅外熱釋電傳感器由兩個(gè)平行平板組成，如圖。簡(jiǎn)單來(lái)說， 紅外熱釋電傳感器形成了一個(gè)半波諧振器，根據(jù)干涉原理生成許多連續(xù)級(jí)數(shù)的透過峰（如圖3）。如果改變平板的間距，峰的位置，也就是 中心波長(zhǎng)（CWL）就會(huì)改變。另一個(gè)帶通濾光片與法布里-帕涉鏡平行擺放來(lái)消除其他級(jí)數(shù)的干擾。
| 型號(hào) | 管殼 | 通道 | 通光孔（mm） | 頻率 | 信號(hào)處理方式 | 熱補(bǔ)償 | 低麥克風(fēng)效應(yīng) | 探測(cè)率 |
| LFP-3144C | TO8 | 可調(diào) | ? 1.9 | 電流模式 | 運(yùn)算放大器 | 有 | 有 | 0.036 |
| LFP-3850C | TO8 | 可調(diào) | ? 1.9 | 電流模式 | 運(yùn)算放大器 | 有 | 有 | 0.03 |
| LFP-5580C | TO8 | 可調(diào) | ? 2.0 | 電流模式 | 運(yùn)算放大器 | 有 | 有 | 0.048 |
| LFP-80105C | TO8 | 可調(diào) | ? 2.0 | 電流模式 | 運(yùn)算放大器 | 有 | 有 | 0.04 |
| 型號(hào) | 中心波長(zhǎng)CWL調(diào)節(jié)范圍 | 波長(zhǎng)分辨率HPBW | 濾光片時(shí)間常數(shù) | 應(yīng)用 |
| LFP-3144C-337 | 3.1~4.4μm | 55~70nm | 3~15ms | 環(huán)境，氣候，建筑和安防技術(shù) |
| LFP-3850C-337 | 3.8~5.0μm | 60~75nm | 2~12ms | |
| LFP-5580C-337 | 5.5~8.0μm | 100~130nm | 1~10ms | 過程控制技術(shù)，液體分析 |
| LFP-80105C-337 | 8.0~10.5μm | 130~220nm | 1~8ms | 醫(yī)療技術(shù)，呼吸狀態(tài)分析 |
以LFP-3144C為例，介紹一下規(guī)格以及參數(shù)
InfraTec可調(diào)波長(zhǎng)紅外傳感器LFP-3144C工程圖
InfraTec可調(diào)波長(zhǎng)紅外傳感器LFP-3144C參數(shù)表
| 參數(shù) | 數(shù)值類型 | 數(shù)值 |
| F-P濾波器 | nom | FPF 3.1 … 4.4 µm, first order |
| 濾波片通光孔徑 |
| ?1.9 mm |
| 反射鏡傳動(dòng)裝置 | nom | Electrostatic, 1 nF load, <0.05 µA leakage current |
| 調(diào)諧范圍 | nom | 3.1 ... 4.4 µm |
| 頻譜帶寬 | nom | 55 … 70 nm |
| 濾波器機(jī)械時(shí)間常數(shù) | typ | 2 … 20 ms |
| 開環(huán)狀態(tài)，倒置重力影響中心波長(zhǎng)漂移 | typ | ±15 … 35 nm |
| EEPROM中存儲(chǔ)的校準(zhǔn)精度（+15…65°C，不受重力影響，開環(huán)） | typ | ±10 nm |
| EEPROM中存儲(chǔ)的校準(zhǔn)精度（+15…65°C，閉環(huán)） | typ | ±3 nm |
| 探測(cè)器板的中心波長(zhǎng)偏差｛25°C｝ | typ | ±2 nm |
| 控制精度 {≤10 g, ≤10Hz} | typ | ±0.5 nm/g |
| 沉降時(shí)間，閉環(huán) | typ | 5 ... 10 ms |
| 需要的供電電壓 | nom | 3.3V, ±5V, 12V, 30…90V |
| 板子的數(shù)字接口 |
| UART, 1MBd, 3.3 V |
| 探測(cè)器輸出信號(hào)，調(diào)節(jié)（板） |
| 0 ... 3.3 V |
| 順序過濾器 | nom | WBP |
| 紫外帶外阻塞 | min | 25 µm |
| 熱釋電探測(cè)器 | nom | LME-337 based type |
| 元件尺寸 | nom | 2.0 × 2.0 mm2 lithium-tantalate with black layer |
| 熱時(shí)間常數(shù) | typ | 150 ms |
| 反饋電阻 | nom | 100 GΩ ±20 % |
| 反饋電容 | nom | 50 fF ±10 fF |
| 極性 | nom | Negative signal by positive IR flux change |
| 電壓響應(yīng) | typ | 1,000 V/W @ CWL = 4.0 ± 0.05 µm |
| 噪聲密度 | max | 75 µV/√Hz |
| 探測(cè)能力 | typ | 3.0E+06 cm√Hz/W @ CWL = 4.0 ± 0.05 µm |
| 工作/存儲(chǔ)溫度 | nom | +15 ... 65 °C / -25 … +85 °C |
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