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BeamOn X光斑光束分析儀

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更新時間：2024-02-07 12:06:29瀏覽次數(shù)：120次

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深圳維爾克斯光電有限公司

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產(chǎn)品簡介

BeamOn X光斑分析儀，又可稱為BeamOn X光斑測量儀或BeamOn X光斑光束分析儀，是DUMA激光光斑分析儀中基于CMOS成像原理的一款設(shè)備，具有良好的成本效益。

詳細(xì)介紹

高分辨率BeamOn X光斑測量儀，7.4 mm x 5 mm靶面，像素尺寸2.4 um

BeamOn X光斑分析儀，又可稱為BeamOn X光斑測量儀或BeamOn X光斑光束分析儀，是DUMA激光光斑分析儀中基于CMOS成像原理的一款設(shè)備，具有良好的成本效益。另外，該設(shè)備屬于CMOS光斑分析儀，采用快門技術(shù)，帶有1/1.8英寸的檢測區(qū)域，配套的軟件界面友好，使用方便，能實時檢測和顯示光束輪廓、光斑橢圓度情況。

BeamOn X光斑測量儀的特點：

-測量光斑尺寸低至30微米

-CMOS成像

-光斑橢圓度

-準(zhǔn)確質(zhì)心定位，測量光束輪廓和能量分布

-高幀率——50 Hz

-光譜范圍——350-1310 nm

BeamOn X光斑分析儀外觀圖片

BeamOn X CMOS光斑分析儀可檢測激光規(guī)格：

規(guī)格	參數(shù)
光束類型	連續(xù)光或脈沖光
光束尺寸	?30 um-?4.5 mm
光譜響應(yīng)范圍	350-1310 nm

BeamOn X光斑檢測儀產(chǎn)品規(guī)格：

型號	BeamOn X
傳感器類型	CMOS 尺寸1/1.8英寸
傳感器探測面積（mm）	7.4（長）x 5（高）
分辨率（像素數(shù)量長 x 高）	3096 x 2080
像素尺寸	2.4 um x 2.4 um
像素位深	10/14 bits
光束寬度分辨率	1微米或者更好
損傷閾值	帶衰減片50 W/cm²
靈敏度	激光波長633 nm時，0.5 nW/cm² 激光波長1310 nm時，15000 nW/cm²（15 uW/cm²）
飽和度	不帶衰減片1 W/cm²
產(chǎn)品尺寸（長 x 寬 x 高）單位mm	?63 mm x 51 mm寬
重量（典型）	帶光纜300 g
機(jī)械接口	Post mounting：8-32UNC，6 mm寬
運行溫度	0 °-35 ℃
定位分辨率	1 um
光束寬度精確度	±2%
動態(tài)范圍	60 dB
曝光速度（可調(diào)節(jié)）	32 us-2 s
幀率	50 fps - 高達(dá)450 fps @fast mode（8 bit + ROI）
功率測試	在選定的點上進(jìn)行用戶預(yù)校準(zhǔn)
去除背景噪聲	自動
Trigger	內(nèi)部軟件
功率需求	~2 W（通過USB3.0接口）
（計算機(jī)）硬件要求	CPU i5 1.6 GHz，4 GB內(nèi)存分辨率1366 x 766
接口	USB3.0，Windows 7/8/10（32&64 bit）

BeamOn X光斑測量儀能測量光束直徑30 um - 4.5 mm的連續(xù)光或脈沖光，定位分辨率高達(dá)1 um。光束經(jīng)由CMOS光斑分析儀系統(tǒng)成像后，軟件界面將顯示光束輪廓和能量分布，同時還提供質(zhì)心定位、光斑橢圓度、光束尺寸數(shù)值。質(zhì)心定位、光束尺寸在BeamOn X光斑光束分析儀檢測過程中得出，能量分布通過顏色變化情況和能量曲線來辨別。在一定的能量強(qiáng)度的范圍內(nèi)，激光光斑分析儀系統(tǒng)還能測量出光斑橢圓度、長軸、短軸數(shù)值。為了保障BeamOn X光斑光束分析儀不因激光功率過高而導(dǎo)致設(shè)備故障，激光的功率密度應(yīng)遠(yuǎn)低于損傷閾值。

訂購信息：

Model BEAMON-X-E-FW：350-1310 nm，帶衰減片轉(zhuǎn)輪，轉(zhuǎn)輪內(nèi)含3片衰減片（NG4，NG9，NG10）

Model BEAMON-X-E：350-1310 nm，不帶衰減片轉(zhuǎn)輪

一套完整的激光光斑分析儀系統(tǒng)包括一臺BeamOn X光斑分析儀（含連接線纜）、一根支柱、系統(tǒng)軟件（存于CD/U盤）、一個小提箱。