光譜式測(cè)量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術(shù)提供了Z高精度的亮度、色度測(cè)量?，F(xiàn)有的光譜式測(cè)量的主要不足是需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。Photo Research的A-TAKT系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足，實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測(cè)試。

詳細(xì)介紹

光譜式測(cè)量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術(shù)提供了zui高精度的亮度、色度測(cè)量。現(xiàn)有的光譜式測(cè)量的主要不足是需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。Photo Research的A-TAKT™系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足，實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測(cè)試。

A-TAKT™系列包含三款——高精度，快速測(cè)量，針對(duì)于低亮測(cè)試應(yīng)用的V-7HS；快速，高光譜分辨率，適用于高亮發(fā)光源的測(cè)試的V-7WD；以及經(jīng)濟(jì)、便攜，適用于QC/QA測(cè)試的V-6AQL。

所有三款機(jī)型都是基于CCD進(jìn)行探測(cè)而不需通過(guò)目鏡觀測(cè)，同時(shí)可調(diào)取、使用測(cè)試對(duì)象的圖像；多光譜帶寬可選（2，5，8nm）；多孔徑光闌可選（1.0°，1.25°，1.50°，0.50°）；物鏡可從定焦50mm到變焦75mm的鏡頭中進(jìn)行選擇；用戶還可以選擇帶有屏敝罩的特殊的亮度配件用于屏蔽外界雜散光的影響。自帶的1/4-20 SAE螺紋孔使得儀器非常便于安裝和固定。

針對(duì)不同測(cè)試對(duì)象的“EasyProfile”自分析技術(shù)確保得到zui快、zui精準(zhǔn)的測(cè)試結(jié)果。

靈活的定制：
針對(duì)產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境的不同（如工作距離、測(cè)試區(qū)域和系統(tǒng)控制接口等），A-TAKT™系列提供有不同配置，包括光闌、鏡頭的定制（滿足更多的亮度測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍以及不同工作距離、光斑尺寸的測(cè)試需求），易于開(kāi)發(fā)的SDK包可根據(jù)不同用戶的ATE系統(tǒng)進(jìn)行定制等。

操作簡(jiǎn)便：
A-TAKT™系列操作簡(jiǎn)便，支持通過(guò)文本編程通訊協(xié)議或SDK進(jìn)行控制，并與Windows Vista 32或64 bit（或更高版本）及OSX（10.7+）兼容。

通信功能：
A-TAKT™系列可很容易的實(shí)現(xiàn)與外界通訊，它配備有USB接口和RS232接口以及加固的附件可增加儀器在惡劣環(huán)境中的使用安全。