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Smartlab SE 智能多功能X射線衍射儀

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更新時間：2023-02-09 09:55:21瀏覽次數(shù)：909次

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產品簡介

日本Rigaku 智能多功能X射線衍射儀 Smartlab SE, 高自動化、多功能衍射儀, 精于形，智于心,易用、智能的全功能X射線衍射儀

詳細介紹

日本Rigaku 智能多功能X射線衍射儀 Smartlab SE

高自動化、多功能衍射儀, 精于形，智于心

易用、智能的全功能X射線衍射儀

多功能X 射線衍射儀裝備有多種附件，兼具多種用途，例如：粉末衍射、小角散射、殘余應力等多種應用。然而，伴隨著儀器附件及功能的增加，多功能 X射線衍射儀的易用性不斷降低。您是否確定測試人員選擇了的測試條件？當進行多種復雜附件切換的時候，1fE如何確定儀器處于的矯正狀態(tài) ？

Smartlab SE 從如下三個方面解答了您的疑問。首先，儀器可以通過二維碼自動識別裝載于衍射儀上的組件，井檢查相關組件是否滿足用戶選擇的測試。理學智能的軟件會建議操作人員更換組件，以達到的測試結果。

其次，理學的全自動校正操作，會在組件安裝完畢后啟動。在實驗前的自動校正，是確保實驗數(shù)據(jù)一致性，咸小實驗誤差的方法。

除此之外，全新的Sma「tlab Studio ｜｜軟件為全新的 Smartlab SE 提供了模塊化的衍射功能組件，包括儀器的控制、衍射數(shù)據(jù)的分析和生成報告等。Smartlab Studio II 軟件的設計思路，源自于理學的簡單易用的設計語言。全新的 Guidance 軟件確保即使是初學者也可以通過軟件的“引導”獲得與同行專家一樣的測試數(shù)據(jù)。

引導用戶從測試到數(shù)據(jù)分析

Smartlab Studio ｜｜軟件包中的Guidance軟件可以根據(jù)用戶希望完成的測試，給出儀器所需硬件配置，井優(yōu)化測量參數(shù) 。對于常見的測試，軟件會給出化的儀器配置，井可以自動化的完成測試序列。由于 Smartlab中使用了的組件識別技術，因此當測試人員沒有正確配置光路或附件時，Guidance 軟件可以告知測試人員。軟件參數(shù)的優(yōu)化與硬件組件的智能確認是Smartlab系統(tǒng)可以勝任所有樣品測試的關鍵。

可以滿足不同應用需求

多種光路及附件組合，能滿足多種用戶測試需求。簡單、快速的切換不同的光路幾何

CBO （交叉先路）技術與光路自動調整和樣品位置矯正的結合，可以使用戶在多種光路幾何間，快速便捷的切換。

支持多種附件

自動進樣器、樣品旋轉臺、變溫附件或濕度控制附件等多種附件可供用戶選擇。

可滿足快速和二維測量的的探測器

Smartlab SE提供兩個的檢測器：D/teX Ultr a 250 高速一維探測器作為標準配置，HyPix-400 二維半導體陣列檢測器作為升級配置供用戶選擇。 HyPix-400半導體陣列檢測器不僅可以在二維模式下使用，同時還可以切換為零維或一維模式，這樣極大的擴展了該檢測器的應用范圍。

從粉末測試到二維數(shù)據(jù)采集

根據(jù)用戶的需要，整個儀器的配置可以滿足常規(guī)粉末樣品測試，或者，復雜的微區(qū)或原位測試等要求。

標準光路配置

Bragg-Brentano 聚焦光路

．粉末測試

·定量分析

．晶粒尺寸

·結晶度

切換至SAXS測量模式理學的交叉光路（ CBO）技術

使用CBO光路系統(tǒng)

聚焦光路件平行光路 <通過CBO 轉換）

· SAXS 測試薄膜測試聚焦光路悼會聚光路法（CBO-E)

．粉末透射測試

聚焦光路件發(fā)散光路（通過CBO α轉換）

．高峰背比（P/B）的粉末測試

切換至微區(qū)測量模式HyPix-400檢測器

搭載HyPix-400 的光路系統(tǒng)

裝載有HyPix-400 二維探測器的光路

．微區(qū)測試

·原filln-situ測試

．取向測試

Smartlab SE 產品特征

的高速探測器

高分辨率，超快速一維 X 射線探測器D/teX Ultra250 (0/1D)

D/teX Ultra250 一維探測器支持Bragg-Brentano聚焦法測試，并且可以在短時間內獲得廣角度的粉末衍射峰形。作為一款高性能的半導體檢測器，其的能量分辨率可以有效的降低在測試過程中產生的背景噪音。D/teX Ultra250 高速探測器作為一維探測器使用時，可以檢測到極弱的衍射信號，同時，該探測器還可以像閃爍計數(shù)器一樣，作為零維探測器使用。

半導體陣列多維探測器 HyPix-400 (OD /1D/20)

SmartLab SE搭載了的HyPix-400半導體陣列20探測器。如果說 D/teX Ultra 250可以勝任常規(guī)的零維和一維模式讀取的話，那么大讀取面積的HyPix-40 0 二維探測器在收集二維衍射照片方面具有非常大的優(yōu)勢，HyPix -400 二維探測器可以在極短的時間內完成晶體取向評估及廣域倒易空間成像等多種應用。

交叉光路技術：CBO （理學）

CBO 是理學的光路切換單元，使用CBO僅需要對狹縫更換即可完成兩種不同的光路幾何之間的切換。SmartLab SE 可以根據(jù)用戶需求提供三種不同的CBO單元的組合：Bragg-Brentano 聚焦光束／平行光束，B「agg-Brentano 聚焦光束／會聚光束，B「agg-Brentano 聚焦光束／發(fā)散光束。

B舊gg”Brentan 聚焦法：衷方法多用于常規(guī)粉末 XRD） lj試。

平行光束法（CBO）：多層膜拋物面鏡使發(fā)散的光束變?yōu)槠叫泄?。該光束多用于SAXS ，薄膜樣品或表面粗糙樣品的測試等。

會聚光束法（CBO-E）：發(fā)散的光束通過具有橢圓形鏡面的多層膜透鏡會聚于被測表面，該光路可以在透射模式下提供高角度分辨率的數(shù)據(jù)。

發(fā)散光束法（CBO α）：光束被平面多層膜鏡單色后，只有 Kα，相比Bragg-Brentano 可以增加數(shù)據(jù)的峰背比。

測量及數(shù)據(jù)分析軟件包 Smartlab Studio 11

Sma「tlab Studio II 是一個功能強大、操作界面友好的軟件包，其中整合了所有的光路調整，數(shù)據(jù)測試和分析的功能。用戶可以通過不同組件的切換選悻所需的功能，例如“測試” 、“粉末數(shù)據(jù)分析” 、“極圖” 、℃DF分析”或“殘余應力”等功能。所有這些功能都集中于同一個界面友好且容易操作的軟件操作平臺。

智能光路感知功能

由于光學組件可以被儀器自動識別，使用理學的Guidance 軟件可以通過演示動畫指導用戶更換光路或附件。

除此之外，對于常見的應用，軟件包中預設有推薦的光路設置、樣品校正和測量序列，可以嗎助初學者盡快熟悉井完成所需的測試。

流程圖式的測試引導欄

Sma『tlab Studio 川采用了簡潔的流程圖式的引導欄，從測試到數(shù)據(jù)分析的整個過程中，通過提示關鍵步驟，更加直觀的幫助測試人員者理解每步操作。

綜合信息管理系統(tǒng)

Smartlab Studio II 采用了的 SOL數(shù)據(jù)管理模式，于本地數(shù)據(jù)庫中高效的管理測試材料信息、測試數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)分析結果。SOL數(shù)據(jù)庫具有出色的數(shù)據(jù)檢索和備份功能，可以輕松處理海量測試信息.

Smartlab SE 可根據(jù)應用需求調整配置

反射／透射模式下的粉末衍射測量

反射模式光路配置

Bragg-Brentano 聚焦法

．平行光束法

·發(fā)散光束法

用戶可以根據(jù)測量需要在反射模式和透射模式間切換。使用會聚光束進行透射法測試，可以獲得更高的強度和更好的分辨率。

0.1 質量分數(shù)% 石棉（溫石棉）分散于碳酸鈣中一束發(fā)散的X射線經過平面鏡單色后進行衍射實驗，相比于傳統(tǒng)的 Bragg-Brentano聚焦光路模式，可以獲得更高的信背比。從衍射實驗結果中可

以看出，？自量的石棉衍射信號都可以被檢測到。

透射模式光路配置

·聚焦光束法

·平行光束法

（上圖展示的是垂直模式下的透射測試光路）

分別用反射法和透射法測試藥片的X射線衍射峰藥物片劑一般由含有甜昧的輔料及可食用色素構成，可以有效的降低藥片在吞咽時的苦澀感。藥片表面的成分可以通過反射法進行測試，而藥片內部的信息可以通過透射法獲得。

微區(qū)衍射測試

采用理學專有的 CBO-f光學附件，該附件可以使X射線會聚于樣品表面，而不再需要調整×射線從線光源到點光源。除此之外，使用D/teX Ult「a250 高速探測器或 HyPix-400 二維半導體陣列探測器可以快速的檢測到微區(qū)實驗中弱的衍射信號。

微區(qū)測試應用于即刷電路板

(1）電容器（2) IC 芯片（3）焊點采用CBO-f 和 HyPix-400 測試。

極圖／殘余應力測試

使用線光源在極圖測量時，可以降低由于使用Schulz狹縫時，衍射強度隨試樣傾角的增加而降低的情況，其測試效果與點光源一致。軟件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以進行晶體取向分析井且可以通過重新計算得到樣品的全極圖。

在殘余應力測試中，使用平行狹縫分析器（ PSA）可以有效的降低由于位移誤差造成的峰位漂移。

重新計算后生成的鋁錨片的全相極圖

測試中使用了，α日樣品臺，反射附件， Schulz挾縫。全相極圖是基于三個不同的米勒指數(shù)面仆仆，200 和 220 ）的測試結果，通過ODF重新計算得來的。

小角X射線散射（SAXS)

SAXS測試可以獲得粒徑或孔徑小于 100nm的材料的分布情況，衷測試過程中 28角度移動范圍小于 10。。SAXS測試過程中，使用雙挾握和平行光光路系統(tǒng)。／使用真空光路，可以減小空氣散射的影響，從而獲得高質量的數(shù)據(jù)。

10 SAXS測試分散于甲苯中的金粒子（雙狹縫光學系統(tǒng)）

原位測試

原位（ In-situ ）測試技術，可以通過測試人員的控制，改變溫度或濕度，同時測量衍射數(shù)據(jù)的變化。Smartlab SE支持各種原位測量附件，如常見的變溫附件，濕度控制附件，使用DSC附件還可以監(jiān)測樣品在熱反應前后的變化。多種原位附件與HyPix400半導體陣列檢測器的結合，使得快速的實時測量成為可能，不僅可以鑒定結構的變化，還可以檢測大尺寸晶粒和晶面取向的變化。