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深圳市藍星宇電子科技有限公司
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更新時間：2022-11-25 14:26:38瀏覽次數(shù)：206次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要
布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要
簡介：
•桌面型精巧款式
•采集數(shù)據(jù)，自動測量，分析和數(shù)據(jù)后處理，一氣呵成的完備方案
•樣品尺寸:
•150 mm x 150 mm x 92 mm
•承載 4.5 kg
•垂直分辨率: < 0.01nm @ 所有視場下
•橫向分辨:
•0.3µm (±150nm)
•AcuityXR 0.15µm (±75nm)
•基于白光干涉原理，結果可溯源
白光干涉技術內(nèi)在優(yōu)勢
垂直分辨率
普適性，易于操作、各種樣品類型與表面
計量
硬件，為性能所做優(yōu)化
物鏡，為挑戰(zhàn)性測量專門設計
完備的自動化測量系統(tǒng)標準配置
的縫合功能
針對不同應用下，提升效率
ContourX
關鍵好處
高質(zhì)量計量
作為桌面型輪廓儀
布魯克白光干涉輪廓儀
專為您的應用服務
•從每日測試挑戰(zhàn)到滿足嚴苛要求，可靠的表面計量
•不同應用示例：展示布魯克白光干涉獨到之處
•薄膜與鍍層
•精密加工
•材料研究
•MEMS與傳感器
•光學元器件
•半導體
•摩擦學
薄膜與鍍層：表面粗糙度與厚度，的準確性
表面粗糙度與平整度
滿足您的嚴苛要求
材料研究：表面紋理，揭示最微小的細節(jié)
MEMS和傳感器
關鍵尺寸– 質(zhì)量控制，匹配您的所有需求
關鍵尺寸– 質(zhì)量控制，完備的自動化組件
光學元器件：全頻譜密度的粗糙度信息
光柵與光學器件，亞微米計量
微型光學形貌表征
缺陷偵測
半導體：質(zhì)量監(jiān)控與工藝開發(fā)，匹配您的應用需求
質(zhì)量監(jiān)控與工藝開發(fā)，完備的軟件平臺
關鍵尺寸– 質(zhì)量控制
完備的自動化組件
摩擦學
表面紋理與磨損體積（速率）
滿足您對準確性的需求
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