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撫州金時(shí)速儀器設(shè)備有限公司
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更新時(shí)間：2022-12-12 15:49:00瀏覽次數(shù)：417次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線ED400型渦流測厚儀 儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度
ED400型 渦流測厚儀
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
儀器符合國標(biāo)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點(diǎn)
ED400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：
● 量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達(dá)到0～500 μm。
● 精度高 測量精度達(dá)到2%。
● 分辨率高 分辨率達(dá)到0.1 μm。
● 校正簡便 只校正“0"和“50 μm"兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
● 基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測量誤差不大于1～2 μm。
● 可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
● 穩(wěn)定性提高 采用的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)
場長期使用。
● 探頭芯壽命長 采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍： | 0～500 μm |
測量精度： | 0～50 μm：±1 μm； |
50～500 μm：±2% | |
分 辨 率： | 0～50 μm：0.1 μm； |
50～500 μm：1 μm； | |
0～500 μm：1 μm（可選） | |
使用溫度： | 5～45℃ |
外形尺寸： | 150 mm×80 mm×30 mm |
重 量： | 280 g |
標(biāo)準(zhǔn)配置 主機(jī) | 可選附件 備用探頭 |
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