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微區(qū)掃描X射線熒光光譜儀

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產(chǎn)品型號HORIBA XGT-5000WR

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更新時間：2022-09-11 15:00:10瀏覽次數(shù)：183次

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上海首立實業(yè)有限公司

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產(chǎn)品簡介

微區(qū)掃描X射線熒光光譜儀不但可以對樣品的表面進行常規(guī)分析，也可以對樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行分析。

詳細介紹

技術(shù)參數(shù)：

? 10 µm 的 X 射線高強度、高速度的掃描分析。

樣品可以置于大氣中分析，的真空探針方式。

? 同軸觀察，可以從攝像系統(tǒng)中選取所需的測量點，單鍵控制，放大倍數(shù)不超過 100 倍。

? 可以對物質(zhì)表面和內(nèi)部構(gòu)造同時進行分析。

? 主要應用：WEEE/RoHS 中涉及的產(chǎn)品有害元素的測定、珠寶首飾的成份檢測、電子電路板的微區(qū)分析、考古或博物館中對古物的分析

? 同時也滿足科研院校在常規(guī)元素檢測方面的要求

可進行樣品內(nèi)部從Na~ U的元素進行定性、定量分析
2、X射線透射成像，可觀察樣品內(nèi)部細微構(gòu)造
3、多點自動分析，一次可測99點
4、能做不低于10μm的微區(qū)
5、兩種X射線聚焦導管快速切換，可選1.2mm和10μm或100μm
6、X射線與可見光同軸設(shè)計，做到精確定位測試部位。
7、高純硅檢測器，保證高穩(wěn)定性及性能

關(guān)鍵詞：電路板