三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C310/4100大幅提高的驅動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。為了更長時間地保持直線度，三豐公司采用了抗老化且極耐磨的堅固的陶瓷導軌；驅動器 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 均配備了高精度線形編碼器 (其中Z2 軸上為ABS 型)。因此，在垂直方向對小孔連續(xù)自動測量、對較難定位部件的重復測量的重復精度得以提高。
三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C310/4100特點
- 電動型支柱，觸針式輪廓形狀、表面粗糙度測量兩用復合機。
- 輪廓形狀測量用Z軸檢出器搭載Holographic光學尺（SV-C4100）、反射型光學尺（SV-C3100）。表面粗度測量用Z軸檢出裝置，可對應ISO/新JIS。
- 檢出器的滑動部為2段式，可提升檢出器交換時的操作性。
- 資料處理軟體，可做高難度的輪廓形狀、粗度的評價解析。
- 資料處理裝置的通訊系統(tǒng)使用RS-232C。
- 表面粗糙度測量直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測量的工件，L為驅動長度(mm)
- 符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的國際標準。
三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C310/4100技術參數(shù)
輪廓測量
X軸測量范圍:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:反射型線性編碼器
驅動速度:80mm/s、外加手動
測量速度:0.02-5mm/s
移動方向:向前／向后
直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm*以X軸為水平方向上
直線位碟±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)
精度(20°C時)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)；±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)；±(0.8+0.02L)μm (SV-C4100S8,H8,W8) *L為驅動長度(mm)
傾角范圍:±45°Z2軸(噸?
垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅動速度:0-20mm/s、外加手動Z1軸(檢測器)
測量范圍:±25mm
分辨率:0.2μm(SV-C3100), 0.05μm(SV-C4100)
檢測方碟線性編碼器(SV-C3100), 激光全息測微計(SV-C4100)
直線位移:±(2+I4HI/100)μm(SV-C3100)精度(20°C時)±(0.8+I0.5HI/25)μm(SV-C4100)*H:基于水平位置的測量高度(mm) 測針上／下運作:弧形移動
測針方向:向上／向下
測碟30mN
跟蹤角度:向上:77°,向下:87°(使用配置的標準測頭，依表面粗糙度而定)測針針尖半徑:25μm、硬質合金
表面粗糙度測量
X1軸 測量范圍:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:線性編碼器
驅動速度:80mm/s
移動方向:向后
直線度:(0.05+1.5L/1000)μm(S4,H4,W4型)0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)Z2軸(立柱)
垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅動速度:0-20mm/s、外加手動檢測器
范圍／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm(2400μm使用測頭選件)
檢測方法:無軌／有軌測量
測力:4mN或0.75mN(低測力型)
測針針尖:金剛石、90o/5μmR(60o/2μmR:低測力型)
導頭曲率半徑:40mm
檢測方法:差動電感式
