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介電常數(shù)測定儀

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產(chǎn)品型號LJD-C

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更新時間：2022-11-09 16:07:59瀏覽次數(shù)：267次

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北京中航鼎力儀器設備有限公司

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產(chǎn)品簡介

介電常數(shù)測定儀儀采用了多項*技術：雙掃描技術 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

詳細介紹

LJD-C型介電常數(shù)測定儀

一、概述：

介電常數(shù)測定儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz儀采用了多項技術：

雙掃描技術 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。

計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化 —使測試回路殘余電感減至低， Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

　　LJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。

二、主要技術特性：

Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔

固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差:≤7％ ± 滿度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH

電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF

主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 ～ 220pF

主電容調(diào)節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz

頻率分段（虛擬）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

頻率指示誤差 :3 × 10 -5 ± 1 個字

三、夾具工作特性