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納米粒度和Zeta電位儀

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產(chǎn)品型號Zetasizer Nano系列

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更新時間：2022-11-05 14:45:10瀏覽次數(shù)：353次

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產(chǎn)品簡介

納米粒度和Zeta電位儀

詳細(xì)介紹

儀器介紹
新一代Zetasizer Nano 系列可以為膠體和聚合物化學(xué)專家提供綜合測量三項(xiàng)最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。
這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無比的靈敏性和多功能性。

粒度 - NIBS 技術(shù)可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進(jìn)行測量。

Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進(jìn)行精確的測量。

分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學(xué)裝置提供測量分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。

Zetasizer Nano 系列中,可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號

Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano 系列中的，能夠測量所有三項(xiàng)參數(shù)，而且性能絲毫不減。

Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。

所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動滴定儀連接使用，實(shí)現(xiàn)趨勢測量和樣品制備的自動化。

主要特點(diǎn)
新一代Zetasizer Nano系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀
持續(xù)革新與優(yōu)化樹立納米分析新
融合多項(xiàng)技術(shù) 挑戰(zhàn)顆粒表征極限
粒度范圍極寬:0.3-- 10 μm
濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v)
測量分子量
高分辨率高靈敏度Zeta電位測量
zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測高濃度樣品至40%(依賴于樣品)的極限能力

技術(shù)參數(shù)：

粒徑測量
粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測角度: 175º 和 12.8º
最小樣品量: 12 μl

Zeta電位測量
Zeta電位范圍: 無實(shí)際限制
電泳遷移率: 0 – 無實(shí)際上限
樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
樣品濃度: 40% w/v
最小樣品量: 150 μl
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×107 Da * (動態(tài)光散射)
980 - 2 ×107 Da * (靜態(tài)光散射)
最小樣品量 12 μl，* 取決于樣品

多項(xiàng)技術(shù)
馬爾文NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有靈敏性l
馬爾文的新一代PALS+M3技術(shù),將的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測散射光的相位變化l
馬爾文的毛細(xì)管樣品池電極組件,真正避免交叉污染l

強(qiáng)大多功能系統(tǒng)
的APD檢測器,靈敏度無出其右l
特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性l
標(biāo)準(zhǔn)配置研究級高速數(shù)字相關(guān)器l
175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量