X-MET5000 手持式元素分析儀**的光譜儀擁有高性能和高可靠性，它綜合了牛津儀器的PentaFET磚利探測器技術，能夠保證所有用戶感興趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素檢測下限。 這款光譜儀專門為各種嚴格的質(zhì)量控制應用而設計，例如金屬廢料回收利用、合金分類鑒定以及玩具和消費產(chǎn)品的含鉛量檢測結(jié)果是否符合RoHS指令要求。此外，X-MET5000還能滿足采礦業(yè)的需求，也可在環(huán)境監(jiān)測行業(yè)中用于測定土壤中的重金屬含量。
由于現(xiàn)今金屬價格高漲，特別是鎳(Ni)為代表的幾類金屬，企業(yè)要在現(xiàn)代廢舊金屬回收行業(yè)中獲得收益，合金成分的準確鑒定起到至關重要的作用。X-MET5000能夠快速、準確地鑒定鎳的成分，即使其含量低于1%。這款儀器可以同時加載金屬分析和塑膠分析的程序，滿足日益發(fā)展的廢料回收業(yè)的需求。另外，對貴金屬的分析也可通過這款儀器得以實現(xiàn)。
X-MET5000 的主要優(yōu)勢就在于其輕元素處理 (LET) 模式，此模式可允許對重金屬進行快速、準確的分析——即使樣品中存在鋁和硅等輕元素，仍不會影響其分析結(jié)果。而其他普通分析儀由于只使用“基本參數(shù)（FP）法”，根本無法分析由于輕元素的存在對終的分析結(jié)果造成的干擾。
合金分類 這是一款深受鑒定機關青睞的多用途工具，專門為各種嚴格的質(zhì)量控制應用而設計，例如“材料可靠性鑒定”（PMI）、流體加速腐蝕測試等。
- 對準樣品即可進行分析
- 5秒內(nèi)完成304/321或CPTi/Ti-7牌號鑒定
- 可對管縫、焊縫的耐蝕性以及壓力容器的合金進行分析
- 可在數(shù)秒內(nèi)鑒定直徑小于1毫米的管線
- 可測量表面溫度高達400℃的物體
RoHS X-MET5000可以為塑膠、印刷線路板、電纜、塑膠外殼、焊料、緊固件、金屬薄片和其他電子元器件提供快速、無損、“對準即測”的篩選分析。 RoHS等指令限制電子和電氣產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴聯(lián)苯醚（溴的化合物）的含量。這些指令要求對所有電子設備中使用的材料和零部件進行檢測，這對電子產(chǎn)品制造廠商和供應鏈產(chǎn)生了很大的影響。X-MET5000采用IEC 62321標準中所規(guī)定的測試方法，能夠非常便捷有效地篩選樣品中的相關受限物質(zhì)的含量是否能夠滿足RoHS指令的相關要求。航空、醫(yī)學、軍事等屬于這些指令的豁免行業(yè)，用X-MET5000可以確保其產(chǎn)品部件中含有足夠量的鉛，特別是在鍍層和焊接件中足夠的鉛含量能夠保證產(chǎn)品的安全性和可靠性。X-MET5000還可以在數(shù)秒內(nèi)分揀出塑料制品中的聚氯乙烯、溴或銻的含量，以符合廢舊電子和電氣設備回收（WEEE）指令的要求。
其強大的用戶自定義軟件能夠提供準確的分析結(jié)果，從而提高了“合格/不合格”決定的可靠性。
X-MET5000 能夠識別材料類型，并自動選擇佳分析方法。借助于其可選配的臺式支架，可免除執(zhí)行多分析任務時的手工操作，同時又不會令測量結(jié)果的置信水平受到任何影響。
礦石 這款擁有牛津儀器 PentaFET?磚利探測器技術的儀器，保證了對礦山現(xiàn)場勘探過程中用戶所感興趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素檢測下限。
X-MET5000可直接測試巖芯樣品，也可以為后續(xù)的準確實驗室測試篩選樣品。多元素礦石可以通過這款儀器得到有效可靠的分析。友好用戶界面的經(jīng)驗系數(shù)法校準軟件可以直接分析現(xiàn)場樣品，而通用的基本參數(shù)法分析模式可以分析無已知標樣的礦石樣品。20秒內(nèi)即可獲取分析結(jié)果——其強大的用戶自定義軟件能夠提供準確的分析結(jié)果，從而提高了“Go/No-Go”決定的可靠性。
土壤 立法嚴格保護土壤質(zhì)量，使得土壤中重金屬鑒定日顯重要，同時，通過預先分揀受污染的土壤也可以大幅度降低垃圾填埋的費用。這款新產(chǎn)品可在數(shù)秒內(nèi)完成對“可疑污染區(qū)域”的分析，十分便捷高效。
