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X射線衍射儀

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產(chǎn)品型號(hào)X'Pert PRO MRD

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更新時(shí)間：2023-10-13 10:36:56瀏覽次數(shù)：416次

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X射線衍射儀

詳細(xì)介紹

射線衍射（XRD）、X射線散射技術(shù)和計(jì)算機(jī)X射線斷層掃描技術(shù)（CT）是多功能的、非破壞性的測(cè)試方法，能夠揭示各種類型的天然和人造材料的有關(guān)化學(xué)組成、結(jié)晶學(xué)和微結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息。帕納科公司為范圍很廣的XRD和X射線散射應(yīng)用提供了技術(shù)全面的解決方案。我們的產(chǎn)品為包括材料研究、大學(xué)及研究院所、建筑材料、金屬、礦物、塑料制品、醫(yī)藥品和半導(dǎo)體的眾多領(lǐng)域提供了高精度的分析。帕納科的設(shè)備系統(tǒng)有的應(yīng)用專業(yè)技術(shù)和技術(shù)全面的軟件工具的強(qiáng)力支持。用戶們關(guān)于帕納科的系統(tǒng)是可想象的技術(shù)、最物超所值的衍射解決方案的報(bào)道使我們感到十分自豪。

X'Pert PRO MRD and MRD XL

成功的薄膜分析標(biāo)準(zhǔn)

針對(duì)薄膜的研究和生產(chǎn)控制——大到4英寸（MRD）或200mm(MRDXL)的全晶片測(cè)試，可用C-to-C晶片樣品架自動(dòng)完成

帕納科的技術(shù)
把X射線衍射和散射技術(shù)從研究實(shí)驗(yàn)室擴(kuò)展到日常使用及生產(chǎn)控制可以通過(guò)一系列的技術(shù)和軟件開(kāi)發(fā)來(lái)實(shí)現(xiàn)，比如帕納科的超快探測(cè)器。
• 帶有直接光學(xué)位置靈敏（Direct Optical Position Sensing）的測(cè)角儀，是為連續(xù)多年的性能而設(shè)計(jì)的。
• 與CERN和其它技術(shù)的探測(cè)器物理研究單位共同開(kāi)發(fā)的全固態(tài)X射線探測(cè)技術(shù)。
• PIXcel3D：世界上的可以進(jìn)行0維、1維和3維測(cè)量的面探測(cè)器。
• 一套完整的藝術(shù)級(jí)的分析軟件包，為了使用簡(jiǎn)便而設(shè)計(jì)，有詳盡的文本和指南的支持。
• 遍布世界的XRD專家網(wǎng)絡(luò)，能夠回答您的任何應(yīng)用問(wèn)題。

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