安捷倫4155C/是德Keysight4155C半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
Keysight/4155C/半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
Keysight/4155C/半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀/Keysight縮略圖
詳細(xì)資料：
4155C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
4155c半導(dǎo)體測試儀是Agilent下一代精密半導(dǎo)體測試儀。4155c是描述高級器件的低成本、實驗室級的參數(shù)測試儀。4155c低的電流、電壓精度和內(nèi)置的準(zhǔn)靜態(tài)CV測量能力提供了未來擴(kuò)展的基礎(chǔ)。41501B可擴(kuò)展測量能力到1A/200V，還可以在4155c上增加低的噪聲雙脈沖發(fā)生器。
4155c提供了基于PC的參數(shù)分析和表征全套方案的環(huán)境。標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個參數(shù)分析儀，Agilent I/CV 3.0 Lite 自動測試軟件，運(yùn)行Windows XP 操作系統(tǒng)的PC。I/CV 3.0 Lite 提供一個圖形用戶界面，具有強(qiáng)大的分析工具，探針驅(qū)動和自動測試工具。
特性
· 4155c提供4個內(nèi)置的源/監(jiān)控單元（MPSMUs），兩個電壓源單元（VSUs）和兩個電壓監(jiān)控單元（ VMUs）
· 10 fA 和0.2 uV的測試精度可滿足開發(fā)新的工藝技術(shù)和評價材料
· Performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements
· 完成準(zhǔn)靜態(tài)的電容對電壓測量
· 自動提取程序參數(shù)而不需要人工操作屏幕光標(biāo)
· 用超低的SMUs測量泄漏特性。
· 用集成的脈沖發(fā)生器和選擇開關(guān)自動完成器件表征。
· 用內(nèi)置的應(yīng)力測量模式完成晶片的可靠性測試
· 用圖形用戶界面實現(xiàn)“點擊"測試
· Windows環(huán)境提供圖形數(shù)據(jù)分析能力
· 旋鈕掃描功能可以快速檢驗探針是否接觸正常。
· 待機(jī)模式消除外部電源的需要
· 觸發(fā)模式可以同步AC/DC測試
· IBASIC 用戶功能可以繪圖和分析數(shù)據(jù)。
備注：
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