澤塔Zeta-300光學(xué)輪廓儀基礎(chǔ)信息
型號：Zeta-300
產(chǎn)品：光學(xué)輪廓儀/表面輪廓測試系統(tǒng)
品牌：Zeta澤塔
簡介：的3D成像及測試系統(tǒng)（為用戶量身打造的表面輪廓測量設(shè)備，是表面量測領(lǐng)域的）
澤塔Zeta-300光學(xué)輪廓儀簡述
最的3D成像及測試系統(tǒng)（為用戶量身打造的表面輪廓測量設(shè)備，是表面量測領(lǐng)域的）Zeta3D光學(xué)輪廓儀可以對近乎所有材料和結(jié)構(gòu)的樣品進(jìn)行測試,從低反射率高粗糙度的太陽能電池片到高精密拋光的磁盤介質(zhì)，甚至包括高縱橫比結(jié)構(gòu)的微機(jī)械部件和多層結(jié)構(gòu)的微流體其器件。Zeta強(qiáng)大的研發(fā)能力還提供特種應(yīng)用的設(shè)備定制服務(wù)，精密的光學(xué)測試系統(tǒng)和靈活自動的測試軟件包讓用戶的測試工作變得更加靈活簡單。
澤塔Zeta-300光學(xué)輪廓儀特點(diǎn)
多功能光學(xué)測試模組
·Zeta-300測試系統(tǒng)提供多種光學(xué)測試技術(shù)，滿足用戶各種領(lǐng)域的測試需求：
·ZdotTMZ點(diǎn)陣3維成像技術(shù)，是Zeta所有系列產(chǎn)品的標(biāo)配技術(shù)
·ZIC干涉反襯成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)亞納米級粗糙度表面的成像及量化分析
·ZSI白光差分干涉技術(shù)，搭配任意物鏡實(shí)現(xiàn)Z方向超高分辨率的測量能力
·Zx5白光干涉技術(shù)。保證Z方向高分辨率測量的同時(shí)，提供大視野范圍內(nèi)的測量和統(tǒng)計(jì)分析
測試速度快
1分鐘內(nèi)完成所有類型樣品的3D掃描成像及統(tǒng)計(jì)分析，其超高的分辨能力甚至可以對納米級的缺陷進(jìn)行成像。
操作簡單
自動化測試程序，一鍵式操作過程，測試菜單設(shè)置簡單，30分鐘培訓(xùn)速成，結(jié)果輸出直觀。
功能強(qiáng)大
支持Zeta所有的測試技術(shù)，滿足用戶對不同樣品的測試需求，包括Zeta現(xiàn)有的光學(xué)輪廓測試技術(shù)、粗糙度和臺階高度測試技術(shù)等。
澤塔Zeta-300光學(xué)輪廓儀技術(shù)規(guī)格
Zeta-300產(chǎn)品尺寸(mm)
系統(tǒng)(長X寬X高)：510x725x773
主機(jī)：381x457x102
顯示器：596x449x240
總重量：145lbs/65kg
Zeta-300操作規(guī)范
電壓:100-230VAC
電流:4A
工作溫度:18-30oC，非冷凝，±1℃每小時(shí)
Zeta-300性能配置
3D成像:~1秒/點(diǎn)(ZiC)~10秒/點(diǎn)(ZSi)~25秒/點(diǎn)(ZDot)
像素分辨率:0.09μm(0.5x耦合鏡配合100x物鏡)
最小Z軸步距:2nm(壓電陶瓷載臺)13nm(Z軸精密絲杠傳動)
Z軸分辨率：0.5(ZSi)
13nm(Zdot)
重復(fù)性3：7nm(1σ)
Zeta-300系統(tǒng)配置
相機(jī)選項(xiàng)：640x480,1024x768,1280x960
總放大率：35,000x(光學(xué)和數(shù)字放大)
系統(tǒng)光源：3個(gè)大功率白光LED
自動載臺：150mmx150mm(XY方向)
Z軸測試范圍：40mm
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