簡(jiǎn)要描述：紫外輻照計(jì)HCJC-FZ66采用 SMT 貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線(xiàn)型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

詳細(xì)介紹

一、紫外輻照計(jì)HCJC-FZ66產(chǎn)品介紹
該款紫外輻照計(jì)采用 SMT 貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線(xiàn)型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
二、紫外輻照計(jì)HCJC-FZ66產(chǎn)品參數(shù)
1、波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：(以下兩種選其一)
（1）UV-340 探頭：λ：(315～370)nm；λP＝340nm

（2）UV-313 探頭：λ：(290～340)nm；λP＝313nm輻照度測(cè)量范圍：(0.1～199.9×103) μW/cm2
2、紫外帶外區(qū)雜光：UV313：小于 0.05
UV340：小于 0.05
3、相對(duì)示值誤差：±8（相對(duì)與 NIM 標(biāo)準(zhǔn)）
4、余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差：±10
5、線(xiàn)性誤差：±1
6、換檔誤差：±1
7、短期不穩(wěn)定性：±1（開(kāi)機(jī) 30min 后）
8、疲勞特性：衰減量小于 2
9、零值誤差：滿(mǎn)量程的±1
10、響應(yīng)時(shí)間：1 秒
11、使用環(huán)境：溫度(0～40)℃，濕度＜85RH
12、尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg
13電源：常規(guī)使用9V 積層電池一只亦可使用數(shù)據(jù)線(xiàn)連接 USB 接口、5V 電源適配器供電,整機(jī)功耗＜0.1VA
三、產(chǎn)品特點(diǎn)
1、光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
2、數(shù)字液晶顯示，帶背光
3、手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
4、數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
5、低電量提醒
6、自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
7、有數(shù)字保持