低對比度測試卡

X射線是一種波長極短，能量很大的電磁波，X射線的波長比可見光的波長更短(約在0.001~100納米，醫(yī)學(xué)上應(yīng)用的X射線波長約在0.001~0.1納米之間)，它的光子能量比可見光的光子能量大幾萬至幾十萬倍。生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230204-07.

構(gòu)成CT圖像的像數(shù)不可能像X線照片的銀粒那么細(xì)小而多,所以CT空間分辨率較普通的X線照片要小。是否可以簡單的理解為空間分辨率就是多高的像素 時(shí)間分辨率就是照相機(jī)連拍的時(shí)候的時(shí)間間隔對掃描影像而言,約需2.8個(gè)像元才能代表一個(gè)攝影影像上一個(gè)線對內(nèi)相同的信息?？臻g分辨率是評價(jià)傳感器性能和遙感信息的 重要指標(biāo)之一,也是識(shí)別地物形狀大小的重要依據(jù)。

圖像中恰好能分開的細(xì)節(jié)之間的距離;通常用單位寬度范圍內(nèi)可識(shí)別的線對數(shù)表示,單位是每毫米線對數(shù)(LP/mm)。

調(diào)制傳遞函數(shù)

描繪輸出信息量與輸入信息量變化關(guān)系的響應(yīng)函數(shù),是成像系統(tǒng)對輸入信息的傳遞和轉(zhuǎn)換功能。主要反映的是影像信息的再現(xiàn)率。

分辨率測試線對卡，用于X射線機(jī)等X成像設(shè)備的分辨率測試，線對數(shù)量范圍：0.6-5.0lp/mm。CT機(jī)射，X射線機(jī)工業(yè)用CRDR等的成像設(shè)備的影像分辨率測試質(zhì)量控制檢測用線分辨率測試線對卡。線對卡產(chǎn)品介紹分辨率范圍：0.6-5.0lp/mm 鉛當(dāng)量：0.05pb mm 線對卡其他相關(guān)產(chǎn)品：度星卡二度星卡產(chǎn)品質(zhì)量保證。更多產(chǎn)品詳情歡迎咨詢我們的技術(shù)和銷售人員，我們將竭誠為您服務(wù)。低對比度測試卡