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PILATUS3 R CdTe-DECTRIS光子計(jì)數(shù)探測器

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更新時間：2022-07-07 15:50:22瀏覽次數(shù)：186次

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產(chǎn)品簡介

DECTRIS	0

PILATUS3 R CdTe 系列探測器結(jié)合了混合光子計(jì)數(shù) (HPC) 的優(yōu)勢和在大型碲化鎘 (CdTe) 傳感器中直接探測硬 X 射線的優(yōu)勢。 CdTe 為 Mo、Ag 和 In 輻射提供無限接近吸收效率。結(jié)合無噪聲單光子計(jì)數(shù)，這將實(shí)驗(yàn)室中的 X 射線檢測的靈敏度和準(zhǔn)確度提升到一個新的水平。電荷密度研究和對分布函數(shù)分析等具有挑戰(zhàn)性的實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用依賴于硬輻射和具有出色信噪比的數(shù)據(jù)。

詳細(xì)介紹

1.HPC 和硬 X 射線的直接檢測以獲得超高質(zhì)量的數(shù)據(jù)

PILATUS3 R CdTe 系列探測器結(jié)合了混合光子計(jì)數(shù) (HPC) 的優(yōu)勢和在大型碲化鎘 (CdTe) 傳感器中直接探測硬 X 射線的優(yōu)勢。 CdTe 為 Mo、Ag 和 In 輻射提供接近的吸收效率。結(jié)合無噪聲單光子計(jì)數(shù)，這將實(shí)驗(yàn)室中的 X 射線檢測的靈敏度和準(zhǔn)確度提升到一個新的水平。電荷密度研究和對分布函數(shù)分析等具有挑戰(zhàn)性的實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用依賴于硬輻射和具有出色信噪比的數(shù)據(jù)。 PILATUS3 R CdTe 探測器在這些應(yīng)用中表現(xiàn)出色，因?yàn)闆]有暗電流和讀出噪聲，動態(tài)范圍遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于典型的電荷積分探測器。

2.核心優(yōu)勢

- Mo，Ag和In量子效率> 90％

- 沒有圖像滯后和沒有余輝

- 直接檢測和小像素尺寸以獲得超佳光斑分離和超小背景重疊

- 高動態(tài)范圍得益于零探測器背景噪聲、出色的計(jì)數(shù)率和同步讀/寫

- 噪聲和熒光抑制

3.應(yīng)用領(lǐng)域

- 大分子晶體學(xué)(MX)

- 化學(xué)結(jié)晶學(xué)

- SAXS/WAXS

- μCT

- 勞厄衍射

- 高分辨率化學(xué)結(jié)晶學(xué)

- 對分布函數(shù)（PDF）分析

- 關(guān)鍵尺寸SAXS

- 計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）

4.技術(shù)規(guī)格

PILATUS3 R CdTe	1M	300K	300K-W	100K
探測器模塊數(shù)量	2 × 5	1 × 3	3 × 1	1 × 1
有效面積：寬×高 [mm2]	168.7 x 179.4	83.8 × 106.5	253.7 x 33.5	83.8 x 33.5
像素大小 [μm2]	172 x 172
總像素?cái)?shù)量	981 x 1043	487 × 619	1475 × 195	487 x 195
間隙寬度, 水平/垂直（像素） *每個模塊之間水平間隙增加1個像素	7* / 17	- */ 17	7* / -	-* / -
非靈敏區(qū) [ % ]	7.8	5.7	1.1	0.2
缺陷像素	< 0.1%
z大幀頻 [Hz]	5	20	20	20
讀出時間 [ms]	7
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)	1 pixel（FWHM）
計(jì)數(shù)器深度	20 bits（1,048,576 counts）
功耗 [W]	165	30	30	30
尺寸（WHD）[mm3]	265 x 286 x 455	158 x 193 x 262	280 x 62 x 296	114 x 69 x 118 (探頭)
重量 [kg]	25	7.5	7.0	0.9（探頭）
模塊冷卻	水冷	水冷	水冷	水冷
外接觸發(fā)電壓	5V TTL	5V TTL	\	\

**所有規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

北京優(yōu)納珂科技有限公司為您提供PILATUS3 R CdTe-DECTRIS（德科特思）光子計(jì)數(shù)探測器的參數(shù)、價格、型號、原理等信息，PILATUS3 R CdTe-DECTRIS（德科特思）光子計(jì)數(shù)探測器產(chǎn)地為瑞士、品牌為德科特思，型號為PILATUS3 R CdTe，價格為面議，更多相關(guān)信息電話咨詢，公司客服電話7*24小時為您服務(wù)!

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