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探知微觀領(lǐng)域!

掃描探針顯微鏡（SPM），又稱原子力顯微鏡（AFM），是利用細(xì)微的探針，在樣品表面掃描，進(jìn)行高放大倍率觀察三維形貌的顯微鏡。SPM-9600是以快速觀察，操作簡(jiǎn)單而擁有優(yōu)良聲譽(yù)的新一代SPM。

清晰的觀察圖像
SPM-9600在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強(qiáng)的測(cè)量功能，具備了的信號(hào)處理功能，再加上研發(fā)的VBDF(Variable Bandwidth Digital Filter)功能，數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%，可得到更高分辨率，更高質(zhì)量的觀察圖像。SPM-9600是一種全新的換代產(chǎn)品。
豐富的檢測(cè)模式
標(biāo)準(zhǔn)配置模式包括接觸，動(dòng)態(tài)和位相三種模式。
擴(kuò)展模式包括：力調(diào)制、側(cè)向力，磁力（MFM）、電流、表面電勢(shì)（KFM）等檢測(cè)模式，并能和納米壓痕儀與Q調(diào)制系統(tǒng)聯(lián)用，可以輕松地升級(jí)到可控氣氛模式。無論是初學(xué)者還是專家都可輕松使用。
簡(jiǎn)便快捷的操作
SPM-9600的操作界面簡(jiǎn)明易懂。軟件的自動(dòng)化功能幫助用戶都能輕松操作。并具備防振動(dòng)、噪聲的結(jié)構(gòu)，可不受外界干擾，快速地觀察各種樣品。
可擴(kuò)展到控制氣氛SPM
通過追加選配件控制氣氛腔，可升級(jí)到控制氣氛型掃描探針顯微鏡WET-SPM系列。

主要技術(shù)規(guī)格

測(cè)定模式	標(biāo)準(zhǔn)：接觸、動(dòng)態(tài)、相位
	選配模式：力調(diào)制模式、電流模式、磁力（MFM）模式、表面電位模式（KFM）、水平力模式（LFM）
分辨率	水平0.2nm　垂直0.01nm
掃描范圍（X/Y/Z）	30μm×30μm×5μm（標(biāo)準(zhǔn)）
	125μm×125μm×7μm（選配）
	55μm×55μm×13μm（選配）
樣品形狀	24mm × 8mm
樣品裝載方式	頭部滑動(dòng)機(jī)構(gòu)
分束器滑動(dòng)機(jī)構(gòu)	內(nèi)置在AFM頭內(nèi)

■ 設(shè)置室的環(huán)境　

設(shè)置室理想的空調(diào)條件如下。　
  溫度　23°±5℃ 　
  濕度　60%以下
  ■ 電源
  運(yùn)行本裝置需要如下電源。　
  單相 100V-120V　50/60Hz　10A　1路
  接地　第3種地線
  ■ 裝置的尺寸和重量
  SPM單元 W180×D255×H260mm 5.5kg
  控制單元 W250×D420×H454mm 18.5kg