概述:
leeb521金屬超聲波探傷儀,是一種便攜式工業(yè)探傷儀器,它能夠便捷地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。既可以用于實(shí)驗(yàn)室,也可以用于工程現(xiàn)場(chǎng)。
應(yīng)用在鍋爐、壓力容器、電力、石油、化工、海洋石油、管道、船舶制造、汽車、機(jī)械制造、冶金、金屬加工業(yè)、鋼結(jié)構(gòu)、鐵路交通、核能電力、高校等行業(yè)。
功能簡(jiǎn)介:
利用標(biāo)準(zhǔn)試塊自動(dòng)生成DAC、AVG曲線;
自動(dòng)顯示回波相關(guān)參數(shù)(深度D、水平P、距離S、波幅H)
自由切換三種標(biāo)尺(深度D、水平P、距離S)
多個(gè)探傷通道,可自由輸入并存儲(chǔ)行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn)(可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展);
自動(dòng)計(jì)算缺陷當(dāng)量φ值;
兩種探測(cè)方式:峰值、邊沿;
三種探頭方式:?jiǎn)尉А㈦p晶、穿透;
回波抑制;
回波次數(shù)分析。
自動(dòng)增益、回波包絡(luò)功能提高了探傷效率;
斜探頭角度和K值兩種輸入方式;
閘門聲光報(bào)警。
利用PC通訊軟件可以升級(jí)儀器系統(tǒng)的功能;
鋰電池供電,可連續(xù)工作10小時(shí);
技術(shù)參數(shù):
Leeb522 | |
屏幕顯示 | 彩顯 |
掃描范圍 | 0 ~ 10000 |
垂直線性誤差 | ≤2% |
水平線性誤差 | ≤0.1% |
探傷靈敏度余量 | ≥65dB(深200mnφ2平底孔) |
動(dòng)態(tài)范圍 | ≥34dB |
分辨率 | ≥45dB |
頻率范圍(MHz) | 0.5 ~ 20 |
增益調(diào)節(jié)(dB) | 0 ~ 120 |
B掃 | 有 |
兩孔測(cè)試法 | 有 |
探傷錄像 | 有 |
PC通訊 | 有 |
三防功能 | 有 |
DAC/AVG曲線 | 有 |
材料聲速(m/s) | 1000 ~ 9999 |
回波抑制 | 0 ~ 80% |
工作溫度(℃) | -27 ~ 70 |
外形尺寸(mm) | 240*160*40 |
重量(Kg) | 1150g |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、電源適配器、直探頭、斜探頭、探頭連接線 |
可選配件 | 通訊軟件、數(shù)據(jù)線、探傷試塊、探頭、探頭連接線 |