1、內(nèi)標(biāo)法
　　直讀光譜儀定量分析，一般都用內(nèi)標(biāo)法。但在光電直讀光譜儀分析時(shí)，要安裝許多內(nèi)標(biāo)元素通道是很困難的，因此采用同一內(nèi)標(biāo)線。分析時(shí)常以樣品中的基體作為內(nèi)標(biāo)元素。所以內(nèi)標(biāo)線即為基體元素的一條譜線。當(dāng)激發(fā)光源有波動(dòng)時(shí)，組成分析線對(duì)的兩條譜線的強(qiáng)度雖然有變化，但強(qiáng)度比或相對(duì)強(qiáng)度能保持不變。如以R表示強(qiáng)度比，即：
　　R=I/I0
　　I表示分析線的強(qiáng)度，Io為內(nèi)標(biāo)線的強(qiáng)度，表明I及I。同時(shí)變化，R則不受影響。
　　2、三標(biāo)準(zhǔn)試樣法
　　三標(biāo)準(zhǔn)試樣法的特點(diǎn)是做工作曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品，都是在選定好的工作條件下進(jìn)行的。
　　(1)工作步驟。
　　① 選擇三個(gè)或三個(gè)以上的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
　?、谠谶x擇好的光源激發(fā)條件下，激發(fā)每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品二次。
　　③記錄激發(fā)二次所得分析元素的電壓計(jì)數(shù)值R。對(duì)每個(gè)樣品得平均值。
　?、軜?biāo)樣強(qiáng)度為橫坐標(biāo)，含量C％為縱坐標(biāo)，做工作曲線。
　?、萦煞治鰳悠返钠骄祻?qiáng)度，從工作曲線上查對(duì)應(yīng)的含量C值。
　　(2)優(yōu)缺點(diǎn)
　　這個(gè)方法的優(yōu)點(diǎn)是，同時(shí)激發(fā)，同時(shí)測(cè)光。分析條件容易保持一致，所以分析誤差較小，但其缺點(diǎn)是費(fèi)時(shí)，速度慢。而且每次都要研磨標(biāo)樣。
　　3、控制試樣法
　　光源激發(fā)條件事實(shí)上是有變化的，即使每次經(jīng)過(guò)予燃以后仍如此?？刂圃嚇臃ㄖ饕褪怯脕?lái)檢查光源激發(fā)的變化以及用來(lái)校正光源激發(fā)不穩(wěn)定而引起的分析結(jié)果的偏差?？刂茦悠繁旧韽哪撤N意義上講就是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品，它的化學(xué)成分和狀態(tài)更接近生產(chǎn)實(shí)際，可通過(guò)控制樣品結(jié)果的變化，從而檢查工作曲線有無(wú)移動(dòng)。應(yīng)用控制樣品的目的是作快速分析，分析時(shí)，只激發(fā)一個(gè)控制樣品即完成了分析任務(wù)。因?yàn)槿粘７治鰰r(shí)控制樣品和分析樣品是在同一時(shí)間內(nèi)進(jìn)行的，每個(gè)樣品激發(fā)二次，所得分析結(jié)果的變化，應(yīng)該彼此相似?？梢詼p少控制標(biāo)樣和分析樣品性質(zhì)狀態(tài)的不一致所引起的第三元素影響或者組織結(jié)構(gòu)的影響，使分析結(jié)果不準(zhǔn)。這些影響往往只使工作曲線產(chǎn)生一些移動(dòng)。
　　遇到下列三種情況時(shí)，都可以用控制試樣法進(jìn)行。
　　(1)以二元合金標(biāo)樣作出工作曲線做復(fù)雜合金分析時(shí)。
　　(2)以熱軋狀態(tài)的標(biāo)樣做同一牌號(hào)的合金的澆鑄狀態(tài)的分析任務(wù)。
　　(3)各種牌號(hào)的合金歸類用同一組標(biāo)準(zhǔn)樣品作出的工作曲線進(jìn)行分析。
　　由于控制試樣法在日常分析中，用途很廣，因此使用控制試樣法應(yīng)該注意以下問(wèn)題。
　?、倏刂茦悠返暮颗c分析樣品含量愈接近愈好。
　?、诳刂圃嚇拥匿摲N和牌號(hào)與分析樣品接近，物理的及化學(xué)的性質(zhì)與分析樣品相同。
　　③控制試樣要有準(zhǔn)確的分析結(jié)果，光譜的均勻性檢驗(yàn)要好，分析結(jié)果的再現(xiàn)性要好。