CMI900X射線鍍層測厚儀-英國牛津產(chǎn)品,品質(zhì)!CMI900X射線鍍層測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。廣泛適用于電子元件、半導(dǎo)體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾件。

　　CMI900做為品牌在PCB，五金瑞子連接器及電鍍行業(yè)已形成一個(gè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，南華地區(qū)90％以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具 X-熒光鍍層測厚儀CMI900金屬鍍層厚度的測量 CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂／鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析?；赪indows2000 中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLinkFP應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900／950主機(jī)的全面自動(dòng)化控制。

　　CMI900鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)： A：在技術(shù)上一直以來都于的測厚行業(yè).CMI900能夠測量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測定多5層、15種元素。

　　B：度于世界，到0.025um（相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片）

　　C：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。

　　D：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；

　　E：可測量任一測量點(diǎn)，小可達(dá)0.025x0.051毫米樣品臺(tái)選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測量。

　　CMI900x系列鍍層測厚儀樣品臺(tái)選擇：采用開槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：

　　一：手動(dòng)樣品臺(tái)

　　1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

　　2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

　　3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

　　二：自動(dòng)樣品臺(tái)

　　1 程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。

　　2 超寬程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。

　　CMI900系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：

　　1 全程控樣品臺(tái)：XYZ 三軸程序控制樣品臺(tái)，可接納的樣品大高度為150mm，XY 軸程控移動(dòng)范圍為300mm x300mm。 此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。

　　2 Z軸程控樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制，Z軸自動(dòng)控制，可接納的樣品大高度為270mm。

　　3 全手動(dòng)樣品臺(tái)：XYZ三軸手動(dòng)控制，可接納的樣品大高度為356mm。

　　CMI900系列可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。