激光粒度儀廠家Zetasizer Ultra 融合了功能大的 DLS 與 ELS 系統(tǒng)，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和*的多角動態(tài)光散射 (MADLS) 技術來測量顆粒與分子大小。 NIBS 的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍，而 MADLS 則能讓您在這些關鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。

Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 擴展功能可直接分析顆粒濃度。 顆粒濃度的測量適合于廣泛的材料，無需或只需極少稀釋，并且使用快捷，這一切使其成為一種理想的篩選技術。  這是 Zetasizer Ultra 的一項*功能，甚至可以運用于以前非常難測量的病毒和類病毒顆粒 (VLP) 等樣品。 

激光粒度儀廠家的主要功能包括：

• 多角動態(tài)光散射法 (MADLS) 可讓您信心滿滿地進行顆粒與分子大小分布分析
• 動態(tài)光散射 (DLS) 用于測量從不足 1 nm 到 10 µm 的顆粒和分子大小 
• 電泳光散射 (ELS) 用于測量顆粒和分子的Zeta電位，以指示樣品穩(wěn)定性和/或團聚傾向性
• 非侵入背散射 (NIBS) 光學器件可實現(xiàn)多用途、高靈敏度的顆粒和分子大小測量
• 簡單的每峰值濃度/滴度測量（ Red Label）
• 可拋棄毛細管粒度測量樣品池提供了的無損、低量（ 3 µL）分析，并且粒度上限范圍可達到 10 μm
• 具有恒流模式的 M3-PALS 可用于Zeta電位和電泳遷移率測量
• ZS Xplorer 軟件套件可實現(xiàn)簡單、靈活的方法設置和數(shù)據(jù)分析
• 自適應相關可在減少樣品制備的情況下更快速地執(zhí)行更多可重現(xiàn)的粒度測量
• 由深度學習支持的數(shù)據(jù)質量系統(tǒng)可以評估任何粒度數(shù)據(jù)質量問題，并針對如何改進結果提供清晰的建議
• 帶有熒光濾光片的光學濾光轉盤可測量熒光樣品，且不會損害整體系統(tǒng)靈敏度。  還包括用于 DDLS 測量的偏振濾光片
• 可選的 MPT-3 自動滴定儀可幫助研究 pH 值變化的影響
• 一系列可拋棄和可重復使用的樣品池可優(yōu)化不同樣品體積和濃度的測量，其中包括新的低容量可拋棄粒度測量池套件，由于它可以抑制對流，所以既能進行樣品量小到 3 µL 的粒度測量，也擴展了DLS 測量的粒度上限范圍