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熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-475 Kapton膜

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更新時間：2022-06-16 09:46:23瀏覽次數(shù)：161次

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產(chǎn)品簡介

材質	樹脂	卷	76X76MM

熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-475 Kapton膜
美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領域，以高質量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽。

詳細介紹

二、Premier 樣品膜特點：

有卷狀和片狀，多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇；

柔韌性強、方便、耐用；

X-ray射線穿透性，適合各類XRF光譜儀；

抗化學腐蝕性能，不溶于有機溶劑，不污染待測樣品；

（幾乎不含）痕量雜質，特別適合于輕質元素的*檢測。

三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。