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偏振相關(guān)損耗測試儀PDL-201

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品簡介：采用最小搜索技術(shù)，PDL測試儀能在30ms內(nèi)，同時(shí)測量待測器件的偏振相關(guān)損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時(shí)刻的測量精度，可的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650nm，無需波長校準(zhǔn)，比基

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產(chǎn)品簡介：

采用最小搜索技術(shù)，PDL測試儀能在30 ms內(nèi)，同時(shí)測量待測器件的偏振相關(guān)損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時(shí)刻的測量精度，可的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650 nm，無需波長校準(zhǔn)，比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準(zhǔn)確。它帶有USB、以太網(wǎng)、GPIB和RS-232接口，用于電腦控制。能快速、精確測量與波長相關(guān)的無源器件的特性，尤其適用于制造或?qū)嶒?yàn)室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較快的測量速度，較大的測量動(dòng)態(tài)范圍，更明亮的顯示屏，以及用于集成的附加模擬輸出端口。

主要技術(shù)參數(shù)：

波長：	1260-1620 nm
分辨率	0.01 dB
PDL 精確度1,2,3	±(0.01 + 5% of PDL) (dB)
PDL 重復(fù)性1	±(0.005 + 2% of PDL) (dB)
PDL 動(dòng)態(tài)范圍4	0 to 45 dB
IL 精確度1,2,3	±(0.01 + 5% of IL) (dB)
IL 重復(fù)性1	±(0.005 dB + 2% of IL) (dB)
IL 動(dòng)態(tài)范圍4	0 to 45 dB
輸入光功率	-40 to 6 dBm
光功率精度	±0.25 dB
波長校準(zhǔn)( 功率測量)	1260-1360 nm ； 1440-1620 nm
測量速度	30 ms/次 (input >-30 dBm)
操作溫度	0 to 50℃
存儲(chǔ)溫度	-20 to 70℃
光連接器類型	光源、 DUT 輸入：APC
DUT輸出	自由空間適配器
模擬輸出	0-4V PDL監(jiān)控電壓 (用戶自定義PDL范圍) (0-3.5V PDL線性變化, 4V 指示低功率)
電源供應(yīng)	100–240V_AC, 50–60Hz
通訊接口	USB, Ethernet, RS-232, and GPIB
尺寸	2U, 19” 半架寬度 3.5" (H) × 8.5" (W) × 14" (L)