Ci7X臺式分光光度儀
儀器品牌
美國X-Rite
產品介紹
作為主儀器的愛色麗Ci7x系列分光光度儀,代表了在整個色彩供應鏈中生產和維護高位值色彩測量數據的重大飛躍。不同于此前的任何工業(yè)分光光度儀,Ci7800和Ci7600積分球式分光光度儀與愛色麗的Color iControl軟件配合使用,可調整適用于任何色彩供應鏈(包 括那些固定使用其他供應商儀器者)。此外,當與Color iQC 或Color iMatch配合使用時,Ci7800和Ci7600系列分光光度儀能自動確保儀器設置正確,跟蹤測量要求的執(zhí)行情況,并記錄每個被測色樣的影像。其結果是無縫隙的自動化色彩測量和管理流程,可以很容易地檢查出無效測量和色樣缺陷,與此同時提供業(yè)界的儀器臺間差和可重復性。
功能特點
透射測量時的激光目標定位能力,實現更快速、更準確的測量。
與本領域中當前的儀器相比,在多種多樣溫度和濕度條件下具有更大的測量穩(wěn)定性。
模塊化設計使得現場維修更容易,因此從根本上消除了返廠維修需要,而維修往往使儀器在漫長的時間內無法使用。
其他軟件選項,力求提高生產效率和可靠性:
通過添加精選的軟件解決方案支持愛色麗 Ci7800/ Ci7600,生產效率得以提高,昂貴的錯誤和返工可減少。
NetProfiler能驗證、優(yōu)化和認證所有色彩測量設備(在整個工廠或范圍)的性能。
Color iMatch確保著色劑高效準確的配色,滿足客戶提供的標準。
Color iQC可消除在評估規(guī)格色彩以及原料和成品制造過程中的推測因素。
Color iQC Taper是一個色彩序列解決方案,允許使用 CIELab 數據(表示卷材),將數據置于一個序列( Tager),使相鄰各卷之間的色差最小化。
技術參數
Ci7800 | Ci7600 | |
可重復性(白片) | *0.01 RMS ΔE*CIELab | 0.03 RMS ΔE*CIELab |
儀器臺間差** | 平均值 0.08 ΔE*CIELab | 平均值 0.15 ΔE*CIELab |
光源 | 脈沖氙,D65 校準 | 脈沖氙,D65 校準 |
UV 濾鏡 | 400 納米(標準),420 納米***,460 納米*** | 400 納米(標準),420 納米***,460 納米*** |
光譜范圍 | 360 納米 – 780 納米 | 360 納米 – 750 納米 |
波長準確度 | <0.10 納米,典型 | <0.10 納米,典型 |
波長精密度 | <0.05 納米,典型 | <0.05 納米,典型 |
波長間隔 | 10 納米(默認);5 納米;20 納米 | 10 納米(默認);20 納米 |
帶通濾波器 | 10 納米(默認);5 納米;20 納米 | 10 納米(默認);20 納米 |
光度測定范圍 | 0.0% 到 200% 反射率 | 0.0% 到 200% 反射率 |
光度測定分辨率 | 0.001% | 0.01% |
測量周期時間 | ≈2.5 秒鐘 | ≈2.5 秒鐘 |
色樣預覽 | 視頻和色樣門預覽 | 視頻和色樣門預覽 |
反射孔徑 | 25 毫米 17 毫米 10 毫米 6 毫米 3.5 毫米 *** | 25 毫米 17 毫米*** 10 毫米 6 毫米 3.5 毫米*** |
全透射孔徑 | 22 毫米 17毫米 10 毫米 6 毫米 | 22 毫米 10 毫米 6 毫米 |
直接透射 | 22 毫米 | 22 毫米 |
光學配置 | 三光束 散射 8°,6" 積分球,2D CCD 陣列/全息光柵 | 三光束 散射 8°,6" 積分球,2D CCD 陣列/全息光柵 |
尺寸 | 高 31 厘米(12.2 英寸) 寬 22 厘米(8.7 英寸) 深 56 厘米(22.0 英寸) | 高 31 厘米(12.2 英寸) 寬 22 厘米(8.7 英寸) 深 56 厘米(22.0 英寸) |
重量 | 20.5 千克(45.0 磅) | 20.5 千克(45.0 磅) |
溫度(操作) | 攝氏 5 至 40 度 | 攝氏 5 至 40 度 |
相對濕度(操作) | 5% 至 85%,非冷凝 | 5% 至 85%,非冷凝 |
電氣要求 | 100 至 240 VAC / 50 至 60Hz | 100 至 240 VAC / 50 至 60Hz |
接口 | USB 2.0 | USB 2.0 |
NetProfiler | 嵌入式 | 嵌入式 |
特殊功能 | 透射激光目標定位 同時進行包含和排除鏡面反射測量 儀器濕度和溫度傳感器 自動 UV 和透鏡控制 數字簽名 垂直和水平*** 測量平面方向 | 透射激光目標定位 同時進行包含和排除鏡面反射測量 儀器濕度和溫度傳感器 自動 UV 和透鏡控制 數字簽名 垂直和水平*** 測量平面方向 |