Contracex-100型光學(xué)輪廓儀在*佳價格點上為精確和可重復(fù)的非接觸式表面計量設(shè)置了一個新的基準。小足跡系統(tǒng)提供不妥協(xié)的2D/3D高分辨率測量功能，在一個流線型封裝，融合了幾十年的布魯克白光干涉測量(WLI)的**。下一代增強包括一個新的5 MP相機和更新階段的更大的縫紉能力，和一個新的測量模式，USI，為精密加工表面，厚膜和摩擦學(xué)應(yīng)用更大的方便和靈活性。您將找不到一個比Contracex-100更有價值的桌面系統(tǒng)。

****的計量

Contracex-100型輪廓儀是40多年來在非接觸式表面計量、表征和成像領(lǐng)域的專有光學(xué)**和行業(yè)地位的**。該系統(tǒng)利用三維WLI和二維成像技術(shù)，在一次采集中進行多次分析。Contracx-100在所有表面情況下都是穩(wěn)健的，反射率從0.05%到不等.

不匹配值與分析

有了數(shù)千個定制的分析和Bruker的簡單而強大的VisionXpress™和VI 64用戶界面，Contracex-100臺式平臺為實驗室和工廠的生產(chǎn)力進行了優(yōu)化。硬件和軟件相結(jié)合，提供流線型的高通量光學(xué)性能，*超過可比的計量技術(shù)。