公司介紹：
NTT-AT有著多年的X射線、極紫外光學(xué)配件的研發(fā)與銷售經(jīng)驗(yàn)。在范圍內(nèi)，通過與眾多來自同步輻射科學(xué)，阿秒科學(xué)，高強(qiáng)度物理學(xué)等領(lǐng)域的科學(xué)研究者開展緊密合作，積累了大量*的設(shè)計(jì)與制造技術(shù)，其產(chǎn)品在業(yè)內(nèi)享有很高的評價(jià)。NTT-AT提供的菲涅爾波帶片有著高分辨率，高聚光效率等特點(diǎn)，適合被各種輻射光設(shè)施使用。另外，分辨率測試卡被當(dāng)作業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)。不只是學(xué)術(shù)研究，在X射線的檢查裝置開發(fā)現(xiàn)場也被廣泛使用。XUV鏡片，XUV濾波片不僅對阿秒科學(xué)有著幫助，對下一代的光刻研究也有這重要作用。NTT-AT將在XUV,EUV, X線領(lǐng)域給予客戶在研發(fā)上的幫助。
產(chǎn)品介紹：
規(guī)格參數(shù)：
| No | Design name | AOI | pol. | Peake nergv | Reflectivity | Bandwidth(FWHM) | ||
1 | BBR-85.31.7 | 5 deg | s | 85 eV | 14.6 nm | 3.8% | 31.7 eV | (5.7nm) |
2 |
BBR-80-30 |
5 deg | s | 80 eV | 15.5 nm | 5.1% | 30 eV | (6.1 nm) |
3 |
BBR-75-28.5 | 5 deg | s | 75 eV | 13.8 nm | 6.6% | 28.5 eV | (6.6 nm) |
4 |
BBR-70-27 |
5 deg | s | 70 eV | 17.7 nm | 8.1% | 27 eV | (7.3 nm) |
5 |
BBR-65-25.5 |
5 deg | s | 65 eV | 19.1 nm | 9.3% | 25.5 eV | (8 nm) |
6 |
BBR-60-24 |
5 deg | s | 60 eV | 20.7 nm | 9.8% | 24 eV | (8.6 nm) |
7 |
UBBR-55-39 | 5 deg | s | 55 eV | 22.5 nm | 6.8% | 39 eV | (16.3 nm) |
8 |
UBBR-50-34 | 5 deg | s | 50 eV | 24.8 nm | 6.7% | 34 eV | (18.6 nm) |
天文學(xué)
XUV光電子光譜
XUV顯微
EUV光刻
等離子體物理
阿秒科學(xué)
環(huán)保在線