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公司介紹：

NTT-AT有著多年的X射線、極紫外光學(xué)配件的研發(fā)與銷售經(jīng)驗(yàn)。在范圍內(nèi)，通過與眾多來自同步輻射科學(xué)，阿秒科學(xué)，高強(qiáng)度物理學(xué)等領(lǐng)域的科學(xué)研究者開展緊密合作，積累了大量*的設(shè)計(jì)與制造技術(shù)，其產(chǎn)品在業(yè)內(nèi)享有很高的評價(jià)。NTT-AT提供的菲涅爾波帶片有著高分辨率，高聚光效率等特點(diǎn)，適合被各種輻射光設(shè)施使用。另外，分辨率測試卡被當(dāng)作業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)。不只是學(xué)術(shù)研究，在X射線的檢查裝置開發(fā)現(xiàn)場也被廣泛使用。XUV鏡片，XUV濾波片不僅對阿秒科學(xué)有著幫助，對下一代的光刻研究也有這重要作用。NTT-AT將在XUV,EUV, X線領(lǐng)域給予客戶在研發(fā)上的幫助。

產(chǎn)品介紹：

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

No	Design name	AOI	pol.	peak energy		reflectivit	bandwidth (FWHM)
1	HR-98-3.4	5 deg	s	98 eV	12.7 nm	67.7%	3.4 eV	(0.4 nm)
2	HR-95-3.8	5 deg	s	95 eV	13.1 nm	67.7%	3.8 eV	(0.5 nm)
3	HR-90-3.8	5 deg	s	90 eV	13.8 nm	68.0%	3.8 eV	(0.6 nm)
4	HR-85-4.0	5 deg	s	85 eV	14.6 nm	66.8%	4.0 eV	(0.7 nm)
5	HR-80-4.0	5 deg	s	80 eV	15.5 nm	63.3%	4.0 eV	(0.8 nm)
6	HR-75-4.6	5 deg	s	75 eV	16.5 nm	54.5%	4.6 eV	(1.0 nm)
7	HR-70-5.0	5 deg	s	70 eV	17.7 nm	47.5%	5 eV	(1.2 nm)
8	HR-70-2.6	5 deg	s	70 eV	17.7 nm	52.1%	2.6 eV	(0.7 nm)
9	HR-65-2.6	5 deg	s	65 eV	19.1 nm	48.5%	2.6 eV	(0.8 nm)
10	HR-60-2.8	5 deg	s	60 eV	20.7 nm	43.7%	2.8 eV	(1.0 nm)
11	HR-55-3.6	5 deg	s	55 eV	22.5 nm	37.3%	3.6 eV	(1.5 nm)
12	HR-50-4.2	5 deg	s	50 eV	24.8 nm	30.9%	4.2 eV	(2.1 nm)
13	HR-48-2.0	5 deg	s	48 eV	25.8 nm	50.6%	2.0 eV	(1.1 nm)
14	HR-45-2.4	5 deg	s	45 eV	27.6 nm	48.4%	2.4 eV	(1.4 nm)
15	HR-40-2.6	5 deg	s	40 eV	31.0 nm	44.8%	2.6 eV	(2.0 nm)
16	HR-35-2.6	5 deg	s	35 eV	35.4 nm	43.1%	2.6 eV	(2.6 nm)
17	HR-30-3.0	5 deg	s	30 eV	41.3 nm	41.2%	3.0 eV	(4.1 nm)
18	HR45-90-6.0	45 deg	s	90 eV	13.1 nm	66.1%	6.0 eV	(0.9 nm)
19	HR45-80-7.4	45 deg	s	80 eV	15.5 nm	60.0%	7.4 eV	(1.4 nm)
20	HR45-70-36.0	45 deg	s	70 eV	17.7 nm	49.0%	3.6 eV	(0.9 nm)
21	HR45-60-5.4	45 deg	s	60 eV	20.7 nm	40.8%	5.4 eV	(1.8 nm)
22	HR45-50-10.0	45 deg	s	50 eV	24.8 nm	30.0%	10.0 eV	(5.1 nm)
23	HR45-40-5.0	45 deg	s	40 eV	31.0 nm	44.4%	5.0 eV	(3.8 nm)
24	HR45-30-7.0	45 deg	s	30 eV	41.3 nm	42.5%	7.0 eV	(9.3 nm)