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更新時(shí)間:2021-06-15 15:36:10瀏覽次數(shù):249次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線且使用的原子力顯微鏡
The quickest path to innovative research Park NX10為您帶來納米級(jí)分辨率的數(shù)據(jù),值得您信賴、使用和擁有 。無論是樣品設(shè)定、全掃描成像還是測(cè)量與分析,Park NX10都能在每一步為您節(jié)約時(shí)間,讓您可以更加專注于創(chuàng)新研究工作。 Better accuracy means better data Park NX10為您帶來納米級(jí)分辨率的數(shù)據(jù),值得您信賴、使用和擁有。它是一個(gè)真正非接觸式原子力顯微鏡,在延長(zhǎng)探針使用壽命的同時(shí),還能夠良好地保護(hù)您的樣品不受損壞。此外,柔性解耦XY軸和Z軸掃描器可帶來的精確度和分辨率。 Better accuracy means better productivity 無論是樣品設(shè)定、全掃描成像還是測(cè)量與分析,Park NX10都能在每一步為您節(jié)約時(shí)間。用戶友好型界面、簡(jiǎn)易的激光準(zhǔn)直系統(tǒng)、自動(dòng)探針接近以及分析軟件都能讓您更快的獲得研究結(jié)果。 Better accuracy means better research 當(dāng)您有了更多充足的時(shí)間和更精確的數(shù)據(jù),您可以更加專注于創(chuàng)新研究工作。即便是復(fù)雜的項(xiàng)目,Park NX10也能夠憑借著眾多的測(cè)量模式和可定制化設(shè)計(jì)滿足您的所有需求。 2技術(shù)信息 Accurate AFM Solutions for General Research Accurate AFM Measurement with Low Noise Z Detector Low Noise Z Detector of Park NX10 AFM Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode ·NX平臺(tái)的關(guān)鍵技術(shù)改進(jìn)和設(shè)計(jì)特點(diǎn) ·噪聲水平為業(yè)界,競(jìng)品無法匹敵 ·默認(rèn)的形貌信號(hào) Z軸探測(cè)器是全新的NX系列原子力顯微鏡的核心技術(shù)改進(jìn)之一。它是Park的新型應(yīng)變傳感器。憑借著0.2埃的超低噪聲,它一躍成為行業(yè)內(nèi)噪聲的Z軸探測(cè)器。超低噪聲讓Z軸探測(cè)器可作為默認(rèn)的形貌信號(hào)。通過對(duì)比全新的NX系列原子力顯微鏡與我們前幾代的原子力顯微鏡,我們可以輕易地看到其中的差異。如果Z軸探測(cè)器的噪聲過高,用戶是無法觀察到藍(lán)寶石晶片的原子臺(tái)階。Park NX系列原子力顯微鏡的Z軸探測(cè)器所發(fā)出的高度信號(hào),其噪聲水平與Z軸電壓形貌相同。 Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode The Best User Convenience by Design Easy Tip and Sample Exchange 的鏡頭設(shè)計(jì)讓您能夠輕易地從側(cè)面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對(duì)齊的懸臂,您無需進(jìn)行繁雜的激光準(zhǔn)直工作。 Lightning Fast Automatic Tip Approach 得益于的探針樣品接近功能,用戶無需進(jìn)行干預(yù)操作,且懸臂裝載后僅需10秒便可進(jìn)行掃描。通過監(jiān)控懸臂對(duì)于接近表面的反應(yīng),Park NX10能夠在懸臂裝載后10秒內(nèi),讓探針自動(dòng)快速接近樣品。正是憑借著高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號(hào)處理,NX系列可讓探針快速接近樣品表面,且無需用戶干預(yù)。 Easy, Intuitive Laser Beam Alignment 憑借著我們的預(yù)準(zhǔn)直懸臂架,懸臂在裝載時(shí)激光便已完成聚焦。并且,自上而下的同軸視角(行業(yè)無二)讓您可以輕松地找到激光光點(diǎn)。由于激光垂直照射在懸臂上,您可以憑直覺旋動(dòng)兩個(gè)定位旋鈕,將激光光點(diǎn)隨著X軸和Y軸移動(dòng)。這樣,您可以在激光準(zhǔn)直界面中,輕易地找到激光并將其定位在PSPD上。此時(shí),您只需要稍作調(diào)整實(shí)現(xiàn)信號(hào)的,便可開始獲取數(shù)據(jù)。 3原子力顯微鏡模式 Adaptable to any project Electrical and Other Sample Characterization Modes 得益于眾多的掃描模式和模塊化設(shè)計(jì),NX系列可輕易滿足任何掃描探針顯微項(xiàng)目的需求。
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