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單點(diǎn)反射測量支架

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產(chǎn)品型號SA-Stage-C

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更新時(shí)間：2021-06-15 19:16:33瀏覽次數(shù)：160次

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上海如海光電科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

簡單介紹SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架是一個(gè)光纖探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。

詳細(xì)介紹

SA-Stage-C單點(diǎn)反射測量支架是一個(gè)光纖探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。

這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備，可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行，調(diào)節(jié)高度可達(dá)80mm。

產(chǎn)品詳情
項(xiàng)目	值
規(guī)格	SA-Stage-C
尺寸	Φ150mm×厚10mm
高度	垂直可調(diào)高度80mm
材質(zhì)	鋁合金
表面處理	亞光發(fā)黑
適配產(chǎn)品	QR系列反射光纖
用途	專為反射光纖測量而設(shè)計(jì)，能有效固定光纖探頭，防止因抖動(dòng)等人為因素影響檢測效果