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SOC710SW 短波紅外高光譜成像儀

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SOC公司具有40余年高光譜成像研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，具有多項(xiàng)高光譜成像領(lǐng)域。SOC還與美國(guó)NASA及長(zhǎng)期合作，并參與了多款太空望遠(yuǎn)鏡的光學(xué)模塊研發(fā)工作。

詳細(xì)介紹

SOC710 SWIR 短波紅外高光譜成像儀是原型號(hào)SOC720的升級(jí)版，更輕便、快捷、精確；是一款高質(zhì)量、高性能的科研級(jí)高光譜成像儀，光譜范圍900~1700nm。具有的高光譜分辨率 (2.75nm)，成像分光計(jì)和高靈敏度的制冷型InGaAs 陣列檢測(cè)器，使得SOC710 SWIR能夠以16bit的數(shù)字分辨率同時(shí)收集640*568像素、288個(gè)波段的高光譜信息。其的性能及成像質(zhì)量，在同類產(chǎn)品中無(wú)出其右。

SOC710 SWIR為一體式設(shè)計(jì)，集成度高，開(kāi)箱之后即可使用；具備內(nèi)置平移推掃裝置，不需另配掃描臺(tái)，即可任意方向或直接垂直向下掃描；掃描速度與積分時(shí)間自動(dòng)匹配。的內(nèi)置掃描和雙CCD設(shè)計(jì)，可以直接預(yù)覽待測(cè)區(qū)域圖像，內(nèi)置平移式平移推掃設(shè)計(jì)成功地解決了外置掃描方式無(wú)法避免的圖像畸變問(wèn)題。真正的所見(jiàn)即所得！自動(dòng)暗電流，自動(dòng)匹配積分時(shí)間，預(yù)覽圖像自動(dòng)提示曝光飽和，自動(dòng)存儲(chǔ)；可按預(yù)設(shè)的測(cè)量間隔長(zhǎng)期無(wú)人值守全自動(dòng)監(jiān)測(cè)。系統(tǒng)采用SOC的HyperScanner 操作軟件和SRAnal710™校準(zhǔn)和分析工具進(jìn)行標(biāo)定和數(shù)據(jù)處理。SOC處理器以的測(cè)量速度快速獲取光譜數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)以開(kāi)放的BIL二進(jìn)制格式保存，可以兼容ENVI等第三方數(shù)據(jù)分析軟件，適應(yīng)多種研究應(yīng)用。嚴(yán)格NIST可溯源校準(zhǔn)，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。