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麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 納米粒徑分析儀 NANOTRAC WAVE II / Q / ZETA

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  麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀

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麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 納米粒徑分析儀 NANOTRAC WAVE II / Q / ZETA

詳細(xì)介紹

納米粒度分析儀 NANOTRAC WAVE系列

180° 反向散射 DLS 設(shè)置
穩(wěn)定的固定光學(xué)樣品接口——無(wú)需調(diào)整
快速磁場(chǎng)反轉(zhuǎn)可防止電滲
作為功率譜比函數(shù)的穩(wěn)健遷移率計(jì)算
高濃度zeta電位測(cè)量
樣品濃度和分子量測(cè)定
通用溶劑兼容性
頻率功率譜計(jì)算模型代替PCS
激光放大檢測(cè)-高信噪比

膠體系統(tǒng)的精確測(cè)量

所有Nanotrac Wave II系列分析儀均使用相同的新型探針技術(shù)進(jìn)行DLS測(cè)量。利用我們的激光放大檢測(cè)方法，為所有類型的材料提供可重復(fù)和穩(wěn)定的粒度測(cè)量。 Nanotrac Wave II系列還可以通過(guò)使用功率譜和產(chǎn)生的負(fù)載指數(shù)來(lái)計(jì)算樣品濃度。根據(jù)分布計(jì)算，濃度將以適當(dāng)?shù)膯挝伙@示，如cm3/ml或N/ml。也可以通過(guò)流體動(dòng)力學(xué)半徑或德拜圖計(jì)算分子量。 Nanotrac Wave II顆粒分析儀具有多個(gè)不同尺寸的可重復(fù)使用樣品池。有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的和微型的特氟隆電池，用于各種材料。對(duì)于較難清潔的樣品，有標(biāo)準(zhǔn)體積的不銹鋼電池和大體積的不銹鋼電池。 Nanotrac Wave II Q粒子分析儀還具有多種標(biāo)準(zhǔn)反應(yīng)杯尺寸，以適應(yīng)多種不同類型的材料。有聚苯乙烯、玻璃和不銹鋼制成的反應(yīng)杯，尺寸從50µl到3 ml不等。 Nanotrac Wave II Zeta粒子分析儀有一個(gè)特殊的可重復(fù)使用的Zeta電池，帶有一個(gè)用于運(yùn)行Zeta電位測(cè)量的電極。Wave II所列的樣本單元也與zeta模型兼容。

納米顆粒和ZETA電位分析的理想選擇

NANOTRAC WAVE II粒度分析儀中的zeta電位測(cè)量采用了與測(cè)量納米粒度分布相同的頻率功率譜方法。同樣穩(wěn)定的光學(xué)樣品接口意味著無(wú)需調(diào)整。在測(cè)量粒徑時(shí)，收集反向散射和激光放大的檢測(cè)信號(hào)，應(yīng)用電場(chǎng)的快速排序可防止電滲。光學(xué)探針表面被涂覆以提供與樣品的電接觸。使用兩個(gè)探針，一個(gè)用于確定滑動(dòng)面上粒子電荷的極性，另一個(gè)用于測(cè)量粒子在電場(chǎng)中的遷移率。極性是在脈沖電場(chǎng)中測(cè)量的，而遷移率是在高頻正弦波電場(chǎng)激勵(lì)下測(cè)量的。zeta電池的兩側(cè)有兩個(gè)探測(cè)探針，用于探測(cè)極性和遷移率。根據(jù)線性頻率功率譜分布（PSD），可以計(jì)算與顆粒濃度成正比的負(fù)載指數(shù)（LI）。負(fù)載指數(shù)值為總散射提供了一個(gè)單一數(shù)字，可用于確定微粒的遷移率（微米/秒/伏/厘米）和微粒極性（正負(fù)）。測(cè)量遷移率和zeta電位首先測(cè)量PSD，并在激發(fā)關(guān)閉的情況下確定LI。然后在高頻正弦波打開(kāi)的情況下測(cè)量PSD，并取一個(gè)比率。通過(guò)測(cè)量脈沖直流激勵(lì)前后的LI來(lái)確定極性。對(duì)于帶正電的探針表面，激發(fā)后的LI除以激發(fā)前的LI的比值小于1表示正極性（濃度降低），大于1表示負(fù)極性（濃度升高）。

Mobility = C x (ratio of [PSD(on) – PSD(off)] / LI(off)
Zeta電位∝ 流動(dòng)性

典型應(yīng)用

多功能性是動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 的一大優(yōu)勢(shì)，這使得該方法適用于研究和工業(yè)中的各種應(yīng)用，例如藥物、膠體、微乳液、聚合物、工業(yè)礦物、油墨等等。

藥品
油墨
life sciences
陶瓷
飲料 & 食物

膠體
聚合物
microemulsions
化學(xué)品
化學(xué)試劑

環(huán)境
粘合劑
金屬
工業(yè)礦物

... 還有更多

技術(shù)參數(shù)

計(jì)算方法	背散射激光放大散射參考方法
計(jì)算模型	FFT功率譜
測(cè)量角度	180°
測(cè)量范圍	0.3 nm - 10 µm
樣品池	NANOTRAC WAVE II：各種樣品池選項(xiàng) NANOTRAC WAVE II Q：各種比色皿
Zeta電位分析	是
Zeta測(cè)量范圍（電位）	-200 mV - +200 mV
Zeta測(cè)量范圍（尺寸）	10 nm - 20 µm
電泳流動(dòng)性	0 - 15 (µm/s) / (V/cm)
電導(dǎo)率測(cè)量	是
電導(dǎo)率范圍	0 - 10 mS / cm
分子量測(cè)量	是
分子量范圍	<300 Da -> 20 x 10^6 Da
溫度范圍	+4°C - +90°C
溫度精度	± 0.1°C
溫度控制	是
溫度控制范圍	+4°C - +90°C（樣品池） +4°C - +70°C（PE比色皿） +4°C - +90°C（玻璃比色皿）。
滴定法	是
可重復(fù)性（尺寸）	=< 1
可重復(fù)性（Zeta）	+ / - 3%
樣品體積大小測(cè)量	50 µl - 3 ml
樣品體積Zeta測(cè)量	150 µl - 2 ml
濃度測(cè)量	是
樣品濃度	高達(dá)40％（取決于樣品）
載體流體	水、極性和非極性有機(jī)溶劑、酸和堿（與WAVE II Q的比色皿不同）。
激光器	780納米，3毫瓦；2個(gè)帶澤塔的激光二極管
濕度	90 %不凝結(jié)
設(shè)備尺寸（寬x高x深）	355 x 381 x 330 mm

作用原理

納米顆粒尺寸分析儀NanoRAC WAVE II、WAVE II Q和WAVE ZETA的光學(xué)工作臺(tái)是一個(gè)包含光纖和Y型分離器的探頭。激光聚焦在探頭窗口和色散界面處的樣品體積上。高反射率藍(lán)寶石窗口將一部分激光束反射回光電二極管檢測(cè)器。激光也穿透色散，粒子的散射光以180度的角度反射回同一探測(cè)器。來(lái)自樣品的散射光相對(duì)于反射的激光束具有較低的光信號(hào)。反射的激光束與來(lái)自樣品的散射光混合，將激光束的高振幅與原始散射信號(hào)的低振幅相加。這種激光放大檢測(cè)方法的信噪比是光子相關(guān)光譜（PCS）和納米跟蹤（NT）等其他DLS方法的106倍。激光放大檢測(cè)信號(hào)的快速傅里葉變換（FFT）產(chǎn)生線性頻率功率譜，然后將其轉(zhuǎn)換為對(duì)數(shù)空間，并進(jìn)行反褶積以給出最終的粒度分布。與激光放大檢測(cè)相結(jié)合，該頻率功率譜計(jì)算提供了所有類型的粒徑分布（窄、寬、單峰或多峰）的穩(wěn)健計(jì)算，無(wú)需像PCS那樣的先驗(yàn)信息進(jìn)行算法擬合。 Microtrac顆粒分析儀中使用的激光放大檢測(cè)方法不受樣品中污染物引起的信號(hào)畸變的影響。經(jīng)典的PCS儀器需要對(duì)樣品進(jìn)行濾波或創(chuàng)建復(fù)雜的測(cè)量方法來(lái)消除這些信號(hào)畸變。