黃生
日本ae-mic超高速芯片電阻檢測(cè)用AE-162E
適用于 D、F、G、J、K 級(jí)、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)
兼容極小的芯片(低功耗測(cè)量)
超高速 0.7msec.(代表值)
通過(guò)熱電動(dòng)勢(shì)抵消測(cè)量實(shí)現(xiàn)高精度和高穩(wěn)定性
通過(guò)各量程的測(cè)量值積分時(shí)間設(shè)置功能實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測(cè)量
% 測(cè)量:± 99.99% [5mΩ-109MΩ]
測(cè)量:0.00mΩ~200.00MΩ
接觸檢查:可選擇測(cè)量前/測(cè)量后/OFF
RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(GP-IB可選)
打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(基于Centronics)
設(shè)置值傳輸功能標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備:(相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_(tái)AE-162E并且可以自動(dòng)設(shè)置)
測(cè)量電流/測(cè)量電壓異常檢查電路標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
測(cè)量范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍 | 測(cè)量電流 | 測(cè)量精度* | ||
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減緩 | 快速地 | ||||
100mΩ | 5mΩ-100mΩ | 100mA | ± 0.02% ± 2a ± 2d | ± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d | |
1Ω | 100.1mΩ~1Ω | 100mA | ±0.02%±a±1d以內(nèi) | ± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d | |
10Ω | 1.001Ω~10Ω | 50mA | |||
100Ω | 10.01Ω-100Ω | 10mA | ±0.02%±1d以內(nèi) | ± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d | |
1kΩ | 100.1Ω~1kΩ | 5mA | |||
10kΩ | 1.001kΩ~10kΩ | 0.5mA | |||
100kΩ | 10.01kΩ-100kΩ | 50μA | |||
1兆歐 | 100.1kΩ~1MΩ | 5μA | ± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d | ||
10兆歐 | 1.001MΩ ~ 10MΩ | 0.5μA | ±0.03%±1d以內(nèi) | ± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d | |
100MΩ | 10.01MΩ ~ 109MΩ | 0.05μA | ±0.1%±2d以內(nèi) | ──── |
* 屏蔽狀態(tài)下的*精度
日本ae-mic超高速芯片電阻檢測(cè)用AE-162E
測(cè)量時(shí)間 | 外部啟動(dòng) | 自由奔跑 | ||
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減緩 | 快速地 | 減緩 | 快速地 | |
大約 18 毫秒-400 毫秒。 | 大約 0.7 毫秒-400 毫秒。 | 約30次/秒~ 約2次/秒 | 約60次/秒~ 約2次/秒 |
測(cè)量端子開(kāi)路電壓 | 15V以下 |
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測(cè)量結(jié)束信號(hào)(EOC)脈寬 | 1 至 250 毫秒,可連續(xù)設(shè)定 |
測(cè)量方法 | 4端測(cè)量/2端測(cè)量可切換 |
判斷值設(shè)定范圍 | %測(cè)量:±99.99%,值測(cè)量:00000-20000 |
周邊環(huán)境 | 溫度:0℃~+50℃,濕度:80%以下 |
需要電源 | AC85V~265V,50Hz~60Hz,約50VA |
外形尺寸 | 333 (w) x 99 (H) x 300 (D) mm(不包括橡膠腳墊等突出部分) |
重量 | 約3.5kg |
選項(xiàng) | ? GP-IB |
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? 數(shù)據(jù)傳輸線 | |
? 短接(零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻) | |
? 轉(zhuǎn)換適配器(3P x 2?5P) |
* 規(guī)格如有改進(jìn),恕不另行通知。