日本nanogray X射線測厚儀SX-1100

測厚儀（薄膜測厚儀）使用軟X射線（soft X-rays）。以非接觸方式（軟 X 射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。不是直接測量厚度，而是通過與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基重）。
　通常，為了測量片材寬度方向的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶進行測量。激光位移計一般用作非接觸方式測量厚度的手段，但如果激光位移計安裝在掃描儀上，在運輸過程中只能以遠低于激光位移計的精度進行運輸, 導致結(jié)果. 高精度測量是困難的。
　另一方面，在X射線測厚儀等通過透射衰減估算厚度的方法中，測量的是空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但樣品的衰減遠大于，傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化，影響很小。因此，可以高精度地進行測量。    

軟X射線測厚儀的一般特點

1. 無需規(guī)定輻射處理負責人或X射線工作負責人或設(shè)置控制區(qū)域
   （需要通知勞動標準檢查辦公室）
   

2. 路徑錯誤可以忽略
   

3. 高元素依賴性
   

與傳統(tǒng)的軟 X 射線測厚儀相比，我們的軟 X 射線測厚儀的特點

1. 探測器和 X 射線源結(jié)構(gòu)緊湊、重量輕，甚至可以安裝在狹窄的線路中。
   

2. 測量范圍廣（材料/厚度）
   

用途

• 銅箔、鋁箔、不銹鋼箔
  

• 電池電極
  

• 陶瓷（薄片、晶片）
  

• 玻璃纖維布

日本nanogray X射線測厚儀SX-1100