2025 07-14

日本大冢電子nanoSAQLA納米粒度測定儀的技術解析

日本大冢電子(Otsuka)推出的nanoSAQLA納米粒度測定儀是一種基于動態(tài)光散射(DLS)技術的粒度測量裝置。該設備能夠測量粒徑范圍在0.6nm至10μm之間的顆粒，適用于從稀薄到濃厚系的廣泛濃...

2025 07-14

日本大冢電子SF-3晶圓膜厚儀的技術解析

日本大冢電子(Otsuka)生產(chǎn)的SF-3小型晶圓膜厚儀是一種專為半導體制造領域設計的精密測量設備。該設備采用分光干涉法實現(xiàn)高精度的膜厚測量，具有非接觸式、非破壞性的特點，適用于硅晶圓、玻璃等基材的厚...

2025 07-14

日本Otsuka顯微分光測厚儀OPTM系列技術解析

日本Otsuka顯微分光測厚儀OPTM系列是一款高精度測量設備，廣泛應用于研發(fā)和質(zhì)量控制領域。該設備通過顯微分光技術實現(xiàn)高精度膜厚和光學常數(shù)測試，具備快速測量、安全結構及個性化定制等功能。OPTM系列...

2025 07-14

日本山本制作所VP-32精米機的技術解析

日本山本制作所推出的VP-32精米機是一款適用于實驗室和小型糧食加工的設備，以其精確的產(chǎn)量和高重復性而受到青睞。該設備的設計注重于稻谷加工過程中的精確控制，確保了米粒的完整性和光澤。VP-32精米機的...

2025 07-12

日本sibata 數(shù)字粉塵監(jiān)測儀 LD-3S技術要點

LD-3S由日本柴田科學（SIBATA）開發(fā)，基于激光二極管光散射法，可在0.001–10.000mg/m3范圍內(nèi)給出相對濃度（CPM）并實時換算為質(zhì)量濃度（mg/m3）。換算系數(shù)K值內(nèi)置1.0與1....

2025 07-12

MP-W5P 空氣采樣泵技術說明

MP-W5P由日本柴田科學設計，是一款手持式隔膜采樣泵，流量連續(xù)可調(diào)0.050–5.00L/min，覆蓋個人暴露量、作業(yè)環(huán)境及大氣監(jiān)測常見需求。機身95×56×95mm、0.45kg，為目前同流量級別...

2025 07-12

UV-37SD 紫外線強度計技術要點與現(xiàn)場使用

UV-37SD由日本KK-CUSTOM設計，定位于“一臺儀器同時記錄UVA、UVC與溫度”的便攜式方案。核心測量單元由兩套硅光二極管傳感器組成：UVA探頭覆蓋320–380nm，校準波長365nm；U...

2025 07-12

45MG 手持超聲測厚儀的技術細節(jié)與現(xiàn)場用法

45MG由日本Evident基于脈沖-回波原理設計，核心為20MHz采樣率的單通道超聲前端。主機內(nèi)置8組探頭參數(shù)庫（5MHz、10MHz、2.25MHz等），通過LEMO接口自動識別探頭型號并加載延時...

2025 07-11

Taiwa CA-50 商用小型精米機技術解析

CA-50采用臥式八輥碾白機構，碾輥轉速1450rpm，配合可調(diào)壓，實現(xiàn)在300kg/h額定產(chǎn)能下仍把米粒溫升控制在14°C以內(nèi)。核心部件為SUS304不銹鋼碾磨室，內(nèi)壁鏡面拋光以減少米糠附著；碾輥表...

2025 07-11

TBR-5000 激光濁度計的技術結構與現(xiàn)場要點

TBR-5000由日本理工科學株式會社（rikohkagaku）設計，核心是一臺660nm半導體激光器與硅光電二極管組成的90°散射光路。激光功率0.5mW，光束直徑1mm，在10mm光程比色皿內(nèi)形成...

2025 07-11

39DL PLUS 超聲波測厚儀現(xiàn)場使用技術要點

39DLPLUS在日本現(xiàn)場主要做兩件事：測厚和記錄。核心流程如下：探頭匹配機內(nèi)菜單先選探頭型號，儀器自動給出延時、聲速和補償值。若材料聲速未知，可用已知厚度試塊做兩點校準，誤差通常小于0.02mm。A...

2025 07-10

山田光學 YP-150I 異物檢查燈技術原理

YP-150I是日本山田光學工業(yè)推出的一款高亮度鹵素光源裝置，主要用于半導體晶圓、液晶基板等材料表面缺陷的宏觀觀察與檢測。該設備采用高色溫鹵素燈作為光源，配合冷鏡反射系統(tǒng)，可提供超過400,000lu...

2025 07-09

日本寺田FPS-1石臼水冷式粉碎機的技術原理與實際應用分析

日本寺田制作所（Terada）開發(fā)的FPS-1石臼水冷式粉碎機，是一種結合傳統(tǒng)石磨原理與現(xiàn)代精密加工技術的小型超微粒粉碎設備。該設備廣泛應用于食品、醫(yī)藥、化工及實驗室等領域，特別適用于干燥原料的超微細...

2025 07-01

日本Nissin-ele LED頻閃照明燈LFS-15K儀操作步驟:技術與應用

操作步驟設備檢查：在使用前，仔細檢查設備外觀，確認無損壞，確保所有部件和連接線均處于良好狀態(tài)，以保障設備的正常運行。電源連接：將LFS-15K連接至合適的電源，務必確保電源電壓與設備要求相匹配，避免電...

2025 07-01

日本Yamabun接觸型測厚儀TOF-5R01：工作原理與實際應用場景

工作原理TOF-5R01是一款接觸型測厚儀，其工作原理基于高精度的機械接觸測量技術。以下是其主要工作原理：接觸式測量：通過高精度的傳感器與被測物體表面接觸，直接測量物體的厚度。這種接觸式測量方式確保了...

2025 06-28

日本Teacom-hada茶葉烘焙機HOT-1mini：實用技術與便捷體驗

在日本，茶文化源遠流長，人們對茶葉的品質(zhì)和口感有著追求。Teacom-hada公司推出的HOT-1mini茶葉烘焙機，以其小巧的機身、便捷的操作和實用的技術，為茶葉愛好者和專業(yè)茶人提供了一種全新的烘焙...

2025 06-28

日本Seiwaopt變焦實體顯微鏡SWIR-5200：實用技術

日本Seiwaopt公司推出的變焦實體顯微鏡SWIR-5200，憑借其實用技術，在多個專業(yè)領域展現(xiàn)出顯著的應用價值，為科研與工業(yè)生產(chǎn)提供了有力支持。一、技術特點高分辨率成像：SWIR-5200顯微鏡配...

2025 06-25

日本AND超聲波無損測厚儀AD-3255：涂層測量的可靠選擇

日本AND超聲波無損測厚儀AD-3255是一款在工業(yè)檢測領域廣泛應用的精密儀器，它憑借高精度和便捷操作等特點，為材料厚度檢測提供了高效可靠的解決方案。技術特點AD-3255采用先進的超聲波脈沖反射技術...

2025 06-25

日本AND實驗室水分測定儀MS-70：技術與實用性的平衡

日本AND實驗室水分測定儀MS-70是一款在多個行業(yè)中得到廣泛應用的設備，其憑借先進的技術和實用的功能，為實驗室和生產(chǎn)現(xiàn)場的水分測定提供了高效、準確的解決方案。先進技術直管鹵素燈與SRA技術：該儀器采...

2025 06-24

日本NCC清潔檢查燈Quantum：基于科學原理的高效檢測工具

在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，清潔度對于產(chǎn)品質(zhì)量有著至關重要的影響。日本NCC公司推出的Quantum清潔檢查燈，憑借其技術原理和實用性能，為各行業(yè)的清潔檢查工作提供了有力支持。一、技術原理Quantum清潔檢查...