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更新時(shí)間:2022-08-22 15:38:48瀏覽次數(shù):392次
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XE-NSOM –用于各種光學(xué)應(yīng)用的完備的AFM 系統(tǒng)XE-NSOM是Park Systems專為高級(jí)光學(xué)研究而精心設(shè)計(jì)的一款專業(yè)產(chǎn)品,該儀器具備近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光譜儀 (Raman Spectrometry)和共聚焦顯微鏡(Confocal Microscopy)功能。XE-NSOM 為此類光學(xué)
Hatachi日立XE-NSOM近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡
XE-NSOM –用于各種光學(xué)應(yīng)用的完備的AFM 系統(tǒng)
XE-NSOM是Park Systems專為高級(jí)光學(xué)研究而精心設(shè)計(jì)的一款專業(yè)產(chǎn)品,該儀器具備近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光譜儀 (Raman Spectrometry)和共聚焦顯微鏡(Confocal Microscopy)功能。XE-NSOM 為此類光學(xué)實(shí)驗(yàn)提供了一整套性能可靠功能齊全的研究檢測(cè)系統(tǒng)。
技術(shù)參數(shù)(機(jī)械部分):
1. XY掃描器:100μm×100μm(閉環(huán))
2. Z掃描器:12μm (可選配25μm)
3. 水平度:100μm線掃描垂直偏差不超過2nm
4. 樣品臺(tái)移動(dòng)范圍:4mm(X/Y),27.5mm (Z)
5. 成像方法: AFM, NSOM
6. 光學(xué)觀察:垂直光路設(shè)計(jì),可直接觀察微懸臂和樣品
技術(shù)參數(shù)(NSOM部分):
1. NSOM激光光譜:400~900nm
2. 可根據(jù)透射或反射NSOM測(cè)量要求選用有孔或無孔微探針
3. 光子檢測(cè):APD 或PMT
技術(shù)參數(shù)(電子部分)
1. 微處理器:600MHz,4800MIPS DSP
2. 模數(shù)/數(shù)模:16位,500kHz采樣頻率
3. 圖像采集:同步自動(dòng)采集16幅圖像,分辨率高達(dá)4096×4096像素
4. 通訊方式:采用基于TCP/IP協(xié)議的通訊方式與計(jì)算機(jī)聯(lián)接
5. 符合CE認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)
主要特點(diǎn):
專業(yè)NSOM和Raman-AFM測(cè)量系統(tǒng)
一、 原子力顯微鏡和光學(xué)測(cè)量的*結(jié)合
二、 科學(xué)的光學(xué)設(shè)計(jì)提供了更寬的觀測(cè)角度
三、 多功能的平臺(tái)可滿足反射和透射測(cè)量要求
四、 適宜光子檢測(cè)的便捷式光軸調(diào)節(jié)系統(tǒng)
五、 便于產(chǎn)品升級(jí)的模塊化設(shè)計(jì)思想
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