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MultiMode8 顯微鏡

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產品型號MultiMode8

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更新時間：2023-07-29 09:51:37瀏覽次數(shù)：257次

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產品簡介

產品描述：MultiMode8采用結構緊湊的剛性設計，即使樣品的測試難度大

詳細介紹

高分辨成像的業(yè)界

應用靈活性，高水平論文的發(fā)表

· 高分辨率成像和定量的材料性能成像。

· 提供多模塊功能的MultiMode

· 發(fā)表論文AFM

· 峰值力模式實現(xiàn)

MultiMode是受歡迎的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度，迄今為止數(shù)以萬計的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經在成功安裝使用。其世屆的分辨率，儀器性能，以及得到充分驗證的數(shù)據(jù)，奠定了其在AFM領域的。

定量成像模式
· Bruker專li的新型成像模式PeakForce QNM，可以對材料納米尺度的力學性質進行定量檢測，在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術不同的是，使用PeakforceQNM模式可獲得、定量的實驗數(shù)據(jù)。
· PeakForce TUNA模塊，能夠定量測量樣品的導電特性，這是傳統(tǒng)的導電模式所不能實現(xiàn)的。
· 推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度高6倍時仍不損失圖像分辨率，獲得分辨的AFM圖像。掃描速度，可比傳統(tǒng)的AFM高20倍。
具有高的分辨率和測試性能
· 迄今為止，利用MultiMode系列原子力顯微鏡，已發(fā)表大量高水平論文，幫助科學家們解決了
· 諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結構緊湊的剛性設計，即使樣品的測試難度大，測試條件極為苛刻，也能實現(xiàn)低系統(tǒng)噪音，獲得分辨率的圖像。
· NanoScope®V控制器提供業(yè)界系統(tǒng)噪音和帶寬，大大高了數(shù)據(jù)分析能力，適用于更多的研究領域。
· Bruker的Peak Force Tapping® 技術，控制針尖與樣品的作用力，可遠低于TappingMode所需要的力。
適用于各研究領域
· 大氣或者溶液環(huán)境中，MultiMode8都能夠完成樣品檢測，以其分辨率和功能，被廣泛應用于物理、化學、材料、電子以及生命科學等各個領域。
· 在MultiMode8上可選配溫度調節(jié)和環(huán)境控制附件。加熱到250°C，冷卻至-35°C，或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中，都可以實現(xiàn)敏感樣品的檢測和成像。
· MultiMode8基本操作模式的基礎上選配不同功能的附件，可在高分辨成像的同時，獲得樣品的力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標